[发明专利]显示模组缺陷检测方法、系统及计算机可读存储介质在审
申请号: | 202111443264.0 | 申请日: | 2021-11-30 |
公开(公告)号: | CN114170168A | 公开(公告)日: | 2022-03-11 |
发明(设计)人: | 赵同印;王涛 | 申请(专利权)人: | 苏州华兴源创科技股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/90;G06T7/136;G06T7/13;G06V10/74 |
代理公司: | 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 | 代理人: | 沈晓敏 |
地址: | 215000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 模组 缺陷 检测 方法 系统 计算机 可读 存储 介质 | ||
1.一种显示模组缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括:
接收检测图像,调用预设模板图像执行特征匹配,生成表层缺陷图像和内层缺陷图像;
分割并检测所述内层缺陷图像,生成至少一个内层缺陷区,并计算所述内层缺陷区的边缘清晰度值;
若所述边缘清晰度值大于预设清晰度阈值,则标记所述内层缺陷区,并生成第一内层缺陷图像;
若所述边缘清晰度值小于预设清晰度阈值,则对应生成第二内层缺陷图像。
2.根据权利要求1所述的显示模组缺陷检测方法,其特征在于,所述方法具体包括:
遍历所述内层缺陷图像的像素灰度值,按照预设灰度阈值对所述像素灰度值进行分类,生成至少两类像素灰度集合;
计算所述像素灰度集合的灰度子均值,以及所述像素灰度值的灰度总体均值,并以所述灰度子均值为变量计算灰度方差;
分析得到并遍历所述内层缺陷图像的灰度级,求取使所述灰度方差最大的标准灰度级;
根据所述标准灰度级对所述内层缺陷图像执行二值化分割,生成中间内层图像。
3.根据权利要求2所述的显示模组缺陷检测方法,其特征在于,所述方法具体包括:
遍历所述中间内层图像中所有像素,计算得到所述所有像素的融合近似值;
根据所述融合近似值,分析提取所有边缘像素;
根据所述所有边缘像素,对所述中间内层图像进行分割,生成至少一个内层缺陷区。
4.根据权利要求3所述的显示模组缺陷检测方法,其特征在于,所述方法具体包括:
根据预设的离散差分算子,对所述中间内层图像中第一像素,在至少两个方向上做平面卷积,得到至少两个差分近似值;
根据所述至少两个差分近似值,计算融合近似值;
若所述融合近似值大于预设的标准梯度值,则判定所述第一像素为边缘像素。
5.根据权利要求3所述的显示模组缺陷检测方法,其特征在于,所述方法具体包括:
遍历所述所有边缘像素,根据所述边缘像素,以及与所述边缘像素相邻的相邻像素的灰度值,计算得到所述内层缺陷区的所有边缘灰度评价值;
叠加所有所述边缘灰度评价值,计算得到所述内层缺陷区的边缘清晰度值。
6.根据权利要求5所述的显示模组缺陷检测方法,其特征在于,所述方法具体包括:
获取第一边缘像素的第一边缘灰度值,以及与所述第一边缘像素相邻像素的第一相邻灰度值和第二相邻灰度值;其中,所述第一相邻灰度值和第二相邻灰度值所表征的相邻像素,分别位于所述第一边缘像素的不同方向上;
计算所述第一相邻灰度值和所述第一边缘灰度值的差的平方,与所述第二相邻灰度值和所述第一边缘灰度值的差的平方之和,得到第一边缘灰度评价值。
7.根据权利要求1所述的显示模组缺陷检测方法,其特征在于,所述方法还包括:
获取至少一幅表层缺陷特征图和至少一幅内层缺陷特征图,形成缺陷图像训练集合,并对所述缺陷图像训练集合执行预处理;
构建深度卷积神经网络,并对预处理后的缺陷图像训练集合执行训练,生成表层模板图像和内层模板图像至少其中之一作为所述预设模板图像。
8.根据权利要求1所述的显示模组缺陷检测方法,其特征在于,所述方法具体包括:
接收所述检测图像,并调用所述预设模板图像;
对所述检测图像执行行列遍历,计算所述检测图像中的所有前景特征与所述预设模板图像的相似度值;
若所述相似度值符合预设条件,则标记所述相似度值及所述相似度值对应的前景特征在所述检测图像中的位置,并对应生成所述表层缺陷图像和所述内层缺陷图像至少其中之一;
对所述检测图像执行特征过滤,对应生成所述表层缺陷图像和所述内层缺陷图像其中另一。
9.一种显示模组缺陷检测系统,其特征在于,用于执行权利要求1-8任一项所述的显示模组缺陷检测方法。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时,实现如权利要求1-8中任一项所述的显示模组缺陷检测方法的步骤。
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