[发明专利]一种基于微纳波导倏逝场耦合的单片式光学MEMS加速度计有效

专利信息
申请号: 202111444321.7 申请日: 2021-11-30
公开(公告)号: CN114137254B 公开(公告)日: 2023-08-04
发明(设计)人: 辛晨光;张钟瑶;李孟委;金丽;范长江 申请(专利权)人: 中北大学
主分类号: G01P15/093 分类号: G01P15/093
代理公司: 太原荣信德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 14119 代理人: 连慧敏
地址: 030051 山*** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 波导 倏逝场 耦合 单片 光学 mems 加速度计
【权利要求书】:

1.一种基于微纳波导倏逝场耦合的单片式光学MEMS加速度计,其特征在于:包括输入硅纳米线(1)、弯曲硅纳米线(2)、输出硅纳米线(3)、质量块(4)、悬臂梁(5)、支撑结构(6),所述弯曲硅纳米线(2)固定在质量块(4)上,所述弯曲硅纳米线(2)的一端与输入硅纳米线(1)耦合,所述弯曲硅纳米线(2)的另一端与输出硅纳米线(3)耦合,所述质量块(4)通过悬臂梁(5)与支撑结构(6)连接,所述输入硅纳米线(1)、弯曲硅纳米线(2)均固定在支撑结构(6)上;所述输入硅纳米线(1)的端面输入泵浦光,所述泵浦光耦合入输入硅纳米线(1)中以导波方式传输,然后通过倏逝场耦合的方式导波能量从输入硅纳米线(1)耦合入位于质量块(4)上的弯曲硅纳米线(2)中,在弯曲硅纳米线(2)中传输一段距离后,同样经由倏逝场耦合入输出硅纳米线(3)中,当输入加速度量,所述质量块(4)与支撑结构(6)发生相对位移,带动弯曲硅纳米线(2)相对输入硅纳米线(1)、输出硅纳米线(3)发生轴向位移,弯曲硅纳米线(2)和输出硅纳米线(3)的位移引发重叠长度改变,从而导致耦合效率变化,通过检测输出硅纳米线(3)输出光功率变化推算出弯曲硅纳米线(2)位移量,进而计算出输入加速度量大小。

2.根据权利要求1所述的一种基于微纳波导倏逝场耦合的单片式光学MEMS加速度计,其特征在于:所述输入硅纳米线(1)的一侧设置有半导体激光器(7),所述输入硅纳米线(1)与半导体激光器(7)之间设置有透镜(8),所述输出硅纳米线(3)的一侧设置有光电探测器(9)。

3.根据权利要求1所述的一种基于微纳波导倏逝场耦合的单片式光学MEMS加速度计,其特征在于:所述泵浦光的中心波长范围为1100nm至2200nm,所述泵浦光的光谱半高宽小于10nm。

4.根据权利要求1所述的一种基于微纳波导倏逝场耦合的单片式光学MEMS加速度计,其特征在于:所述泵浦光输入输入硅纳米线(1)的耦合方式采用光栅衍射耦合、透镜聚焦或端面对准直接耦合,所述泵浦光输入输入硅纳米线(1)的耦合效率50%。

5.根据权利要求1所述的一种基于微纳波导倏逝场耦合的单片式光学MEMS加速度计,其特征在于:所述悬臂梁(5)采用T形梁结构或蛇形弹簧结构,所述质量块(4)、悬臂梁(5)、支撑结构(6)的材料均采用Si。

6.根据权利要求1所述的一种基于微纳波导倏逝场耦合的单片式光学MEMS加速度计,其特征在于:所述输入硅纳米线(1)、弯曲硅纳米线(2)、输出硅纳米线(3)的截面面积小于(1/20)λ2,所述λ为泵浦光的中心波长,所述弯曲硅纳米线(2)与输入硅纳米线(1)、输出硅纳米线(3)的间距小于(1/3)λ。

7.根据权利要求1所述的一种基于微纳波导倏逝场耦合的单片式光学MEMS加速度计,其特征在于:所述输入硅纳米线(1)与弯曲硅纳米线(2)的重叠长度为单个耦合周期的整数倍。

8.根据权利要求1所述的一种基于微纳波导倏逝场耦合的单片式光学MEMS加速度计,其特征在于:所述质量块(4)上弯曲硅纳米线(2)的半径大于50μm。

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