[发明专利]一种在质谱仪离子阱中同时检测正离子与负离子的方法

权利要求书

1.一种在质谱仪离子阱中同时检测正离子与负离子的方法，其特征在于，所述离子阱的加电时序包括离子冷却阶段、离子扫描阶段和空闲阶段；

在离子冷却阶段：在离子阱上极板和离子阱下极板上施加幅值为V_RF、频率为f_RF的正弦交流电V_RF×sin(2π·f_RF·t)，以使正离子与负离子稳定地束缚在离子阱XY截面中心附近；在离子阱前离子门和离子阱后离子门均施加幅值为频率为的正弦交流电并分别与直流电压-V_DC和+V_DC进行耦合，即离子阱前离子门和离子阱后离子门分别施加和以使正离子与负离子稳定地被束缚在离子阱Z轴向中心位置处，并在Z轴向上保持相互分离的状态；

在离子扫描阶段：在离子阱上极板和离子阱下极板上施加频率为f_RF且幅值V_RF线性增加的正弦交流电V_RF×sin(2π·f_RF·t)，其中f_RF与离子冷却阶段时f_RF保持一致；在离子阱左极板和离子阱右极板上施加的分别施加幅值为频率为但相位相反的正弦交流电和以将离子阱中的正离子与负离子共振激发出离子阱；

在空闲阶段：卸载离子阱上施加的电压以清除离子阱中的离子。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述离子冷却阶段，幅值V_RF小于600V，且频率f_RF小于2MHz。

3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述离子冷却阶段，幅值小于600V，且频率小于10000Hz，直流电压幅值V_DC小于100V。

4.如权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，在所述离子扫描阶段，V_RF小于6000V。

5.如权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，在所述离子扫描阶段，幅值小于100V且频率小于1MHz。

6.如权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，在所述离子扫描阶段，在离子阱前离子门和离子阱后离子门上不施加任何电压。

7.如权利要求1至6任一项所述的方法，其特征在于，负离子检测器和正离子检测器在X轴向上分别处于离子阱左极板的左侧和离子阱右极板的右侧，负离子检测器和正离子检测器在Z轴向上分别处于靠近离子阱前离子门和离子阱后离子门的位置。

8.如权利要求1至7任一项所述的方法，其特征在于，所述离子阱为矩形离子阱或线性离子阱。

9.一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序由处理器运行时，执行如权利要求1至8任一项所述的方法。