[发明专利]胶合导光件的制造方法和性能测试系统以及电子设备

权利要求书

1.一种胶合导光件的制造方法，其特征在于，包括：

取一导光片，将其胶合位置划分为多个检测区，分别对各检测区施加外力，同时检测所述外力条件下所述导光片的光学参数和应力分布；

分别调整各检测区所施加的外力值的大小，获取所述导光片的光学参数与应力分布的对应关系，根据所述对应关系确定所述导光片表现出预定光学参数时的预定应力分布；

胶合两片所述导光片，使所述导光片具有所述预定应力分布，获得胶合导光件。

2.根据权利要求1所述的胶合导光件的制造方法，其特征在于，胶合两片所述导光片，包括：

在所述导光片表现出所述预定光学参数时，获取各检测区对应的预定外力值；

叠合两片所述导光片，在叠合面之间的所述胶合位置处添加粘合材料，并在对应于所述导光片的各检测区处分别施加所述预定外力值，进行保压处理，使所述导光片具有所述预定应力分布。

3.根据权利要求2所述的胶合导光件的制造方法，其特征在于，在所述胶合导光件上继续叠合所述导光片，重复所述保压处理的过程，得到多层的所述胶合导光件。

4.根据权利要求2所述的胶合导光件的制造方法，其特征在于，在所述保压处理过程中，采用分离式驱动器分别对各检测区施加所述预定外力值。

5.根据权利要求1所述的胶合导光件的制造方法，其特征在于，所述导光片具有耦入区域和耦出区域，检测所述导光片的光学参数，包括：

采用光机向所述耦入区域投射测试图样，所述测试图样经所述耦入区域耦入，以及所述耦出区域耦出；

采用光学探测器接收从所述耦出区域耦出的所述测试图样，获取所述测试图样的光学参数。

6.根据权利要求5所述的胶合导光件的制造方法，其特征在于，向所述耦入区域投射不同的测试图样，获取从所述耦出区域射出的所述测试图样的不同光学参数。

7.根据权利要求1所述的胶合导光件的制造方法，其特征在于，采用吸盘阵列或压电陶瓷促动器阵列分别对各检测区施加外力。

8.一种胶合导光件的性能测试系统，应用于权利要求1-7任意一项所述的制造方法，其特征在于，包括：

外力装置、光机、光学探测器、应力测试仪和控制器，所述外力装置、光机、光学探测器和应力测试仪分别与所述控制器连接；

所述外力装置用于对所述导光片胶合位置的各检测区分别施加外力；所述光机用于向所述导光片投射测试图样；所述光学探测器用于检测所述导光片的光学参数；所述应力测试仪用于检测所述导光片的应力分布；所述控制器用于接收所述光学参数和所述应力分布，并能够控制所述外力装置输出的外力值的大小。

9.根据权利要求8所述的胶合导光件的性能测试系统，其特征在于，所述导光片包括反射型导光片和透射型导光片；

当所述导光片为所述反射型导光片时，所述光学探测器和所述应力测试仪位于所述导光片的不同侧；

当所述导光片为所述透射型导光片时，所述性能测试系统还包括半透半反镜，所述光学探测器和所述应力测试仪位于所述导光片的同侧，所述半透半反镜位于所述光学探测器和所述应力测试仪之间。

10.一种电子设备，其特征在于，包括权利要求1-7任意一项所述的胶合导光件。