[发明专利]适用于大电流条件工作的发光二极管外延结构及制备方法有效
申请号: | 202111446394.X | 申请日: | 2021-11-30 |
公开(公告)号: | CN114141918B | 公开(公告)日: | 2023-07-18 |
发明(设计)人: | 闫其昂;王国斌 | 申请(专利权)人: | 江苏第三代半导体研究院有限公司 |
主分类号: | H01L33/14 | 分类号: | H01L33/14;H01L33/22;H01L33/32;H01L33/00 |
代理公司: | 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 | 代理人: | 赵世发 |
地址: | 215000 江苏省苏州市工业园区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 适用于 电流 条件 工作 发光二极管 外延 结构 制备 方法 | ||
1.一种发光二极管外延结构,其特征在于,包括沿指定方向依次设置的n型GaN层、InGaN/GaN多量子阱发光层、p型AlGaN电子阻挡层、AlInN插入层和p型GaN层;
其中,所述AlInN插入层包括第一AlInN层和第二AlInN层,所述第二AlInN层设置在第一AlInN层与p型GaN层之间,所述第二AlInN层的生长温度高于所述第一AlInN层的生长温度;
所述第一AlInN层表面的多个缺陷处在氢气气氛中被腐蚀形成多个凹陷部,且所述凹陷部被所述第二AlInN层的局部区域填充。
2.根据权利要求1所述的发光二极管外延结构,其特征在于:所述AlInN插入层与p型GaN层之间还分布有p型GaN过渡层。
3.根据权利要求1所述的发光二极管外延结构,其特征在于:所述AlInN插入层是非掺杂的。
4.根据权利要求1所述的发光二极管外延结构,其特征在于:所述AlInN插入层是p型掺杂的。
5.根据权利要求1所述的发光二极管外延结构,其特征在于:所述AlInN插入层沿其厚度方向的一部分是非掺杂的,另一部分是p型掺杂的。
6.根据权利要求1所述的发光二极管外延结构,其特征在于:所述发光二极管外延结构包括在衬底上依次生长形成的低温GaN缓冲层、非掺杂高温GaN层、n型GaN层、InGaN/GaN多量子阱发光层、p型AlGaN电子阻挡层、AlInN插入层、p型GaN过渡层和p型GaN层。
7.根据权利要求6所述的发光二极管外延结构,其特征在于:所述衬底的材质包括蓝宝石、碳化硅、硅、氧化锌或氮化镓中的任意一种。
8.一种发光二极管外延结构的制备方法,其特征在于包括:
在衬底上依次生长形成n型GaN层、InGaN/GaN多量子阱发光层、p型AlGaN电子阻挡层;
在第一温度条件下于p型AlGaN电子阻挡层上生长形成第一AlInN层;
在氢气气氛中将所述第一AlInN层表面的多个缺陷处腐蚀形成多个凹陷部,之后在第二温度条件下于第一AlInN层上生长形成第二AlInN层,并使所述第二AlInN层的局部区域填充所述多个凹陷部,所述第二温度高于第一温度,所述第一AlInN层与第二AlInN层配合形成AlInN插入层;以及
在所述第二AlInN层上生长形成p型GaN层。
9.根据权利要求8所述的制备方法,其特征在于,还包括:在所述第二AlInN层上生长形成p型GaN过渡层,之后在p型GaN过渡层上生长形成p型GaN层。
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