[发明专利]TO-罐型半导体封装件的阻抗信号线的结构在审

专利信息
申请号: 202111446967.9 申请日: 2021-11-30
公开(公告)号: CN114583547A 公开(公告)日: 2022-06-03
发明(设计)人: 朴文秀;高永信 申请(专利权)人: 光电子学解决方案公司
主分类号: H01S5/02345 分类号: H01S5/02345;H01S5/0239
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 谭营营;胡彬
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: to 半导体 封装 阻抗 信号线 结构
【权利要求书】:

1.一种晶体管轮廓(TO)-罐型半导体封装件,包括:

头部,所述头部包括被设置在头部一侧上的半导体激光二极管;

信号线,所述信号线贯穿所述头部并包括从所述头部一侧凸出的一端;以及

边缘耦合微带(ECM)部分,ECM部分被连接到所述信号线,

所述ECM部分包括:

电介质;和

ECM线,所述ECM线被形成为在所述电介质的第一侧上具有预定宽度并在其间留有预定间距的导电图形,并且被分别连接到所述信号线。

2.根据权利要求1所述的TO-罐型半导体封装件,其中,所述ECM线包括被形成为彼此间距预定距离的两条ECM线,并且所述电介质具有预定厚度。

3.根据权利要求1所述的TO-罐型半导体封装件,其中,所述ECM部分还包括至少部分地形成在所述电介质的第二侧上的接地面。

4.根据权利要求2所述的TO-罐型半导体封装件,其中,所述信号线包括差分信号线,其特性阻抗取决于以下至少之一而变化:所述ECM线的宽度、所述ECM线之间的间距、所述电介质的厚度、所述电介质的种类以及所述电介质的介电常数。

5.根据权利要求4所述的TO-罐型半导体封装件,其中,所述ECM线被焊接到所述差分信号线。

6.根据权利要求1所述的TO-罐型半导体封装件,其中,所述ECM线被形成为具有相同的长度和相同的宽度。

7.根据权利要求1所述的TO-罐型半导体封装件,其中,包括所述ECM线和所述信号线的总阻抗通过调节所述ECM线的宽度、所述ECM线之间的间距、所述电介质的厚度、所述电介质的类型和所述电介质的介电常数来确定。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于光电子学解决方案公司,未经光电子学解决方案公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111446967.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top