[发明专利]一种天线检测装置、天线检测系统及天线检测方法

权利要求书

1.一种天线检测装置，其特征在于，所述装置包括射频信号板；所述射频信号板上设置有一个或多个检测单元；所述射频信号板用于与矢量网络分析仪连接，以及接收所述矢量网络分析仪发送的射频测试信号，并将所述射频测试信号传输给所述一个或多个检测单元；

所述一个或多个检测单元用于与待检测天线耦合，并将所述射频测试信号耦合馈电给所述待检测天线，以实现对所述待检测天线的检测；

其中，至少一个所述检测单元包括射频同轴连接器、m根连接线，以及n个耦合馈片；所述射频同轴连接器焊接在所述射频信号板上；所述m根连接线设置于所述射频信号板上；每一个所述耦合馈片的一端与一根所述连接线的一端相连，所述耦合馈片的所述一端位于所述射频信号板的边缘，所述耦合馈片的另一端朝向所述射频信号板未焊接所述射频同轴连接器的一侧；与所述耦合馈片相连的所述连接线的另一端与所述射频同轴连接器相连；所述m为正整数；所述n为不大于m的正整数；

所述射频同轴连接器用于传输所述射频测试信号和所述待检测天线的回波响应；所述连接线用于传输所述射频测试信号；

所述耦合馈片用于与所述待检测天线进行耦合，并实现对所述待检测天线的阻抗信息的检测；

所述装置还包括角度调节部件；所述角度调节部件用于调节所述耦合馈片和所述射频信号板之间的角度。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述n个耦合馈片中的至少一个耦合馈片垂直于所述射频信号板。

3.如权利要求1或2所述的装置，其特征在于，在所述n大于1的情况下，所述n个耦合馈片的位置与所述待检测天线的位置相匹配。

4.如权利要求3所述的装置，其特征在于，所述待检测天线为闭环缝隙结构的天线，所述耦合馈片与所述待检测天线进行耦合时，所述耦合馈片位于所述待检测天线的天线基模或高次模电场大点处。

5.如权利要求3所述的装置，其特征在于，所述待检测天线为开环缝隙结构的天线，所述耦合馈片与所述待检测天线进行耦合时，所述耦合馈片位于所述待检测天线的开环断口处的外侧。

6.一种天线检测系统，其特征在于，所述系统包括矢量网络分析仪，以及如权利要求1-5任一项所述的天线检测装置；所述矢量网络分析仪与所述天线检测装置相连；所述矢量网络分析仪用于发送射频测试信号，并将所述射频测试信号传输至所述天线检测装置中的耦合馈片，使得所述射频测试信号被耦合馈电给待检测天线，并检测所述待检测天线产生的回波响应，从而实现对所述待检测天线的检测。

7.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述系统还包括主控板和计算机；所述计算机与所述矢量网络分析仪相连；所述矢量网络分析仪通过所述主控板与所述天线检测装置相连；所述主控板用于控制所述射频测试信号的通断；所述计算机用于对所述待检测天线的回波响应进行分析。

8.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述矢量网络分析仪用于所述检测所述待检测天线产生的回波响应时，具体用于：

在所述天线检测系统用于同时对a个待检测天线进行检测的情况下，所述矢量网络分析仪用于检测所述a个待检测天线的回波响应叠加后的回波响应；所述a为不大于n的正整数。

9.如权利要求6-8任一项所述的系统，其特征在于，所述矢量网络分析仪用于所述检测所述待检测天线产生的回波响应时，具体用于：

在所述天线检测装置包括的射频信号板上设置有多个检测单元的情况下，所述矢量网络分析仪用于依次检测与所述多个检测单元中的耦合馈片进行耦合的待检测天线的回波响应。

10.一种天线检测方法，其特征在于，所述方法应用于如权利要求6-9任一项所述的天线检测系统；所述方法包括：

将待检测天线移向所述天线检测系统中的天线检测装置，以使得所述天线检测装置中的耦合馈片上的射频测试信号耦合至所述待检测天线上，且使得所述待检测天线的回波响应传输至所述天线检测系统中的矢量网络分析仪；所述天线检测装置与所述矢量网络分析仪相连。