[发明专利]一种测试异常处理方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明提供一种测试异常处理方法，包括：向诊断系统获取待测试设备的诊断测试日志及存放位置；当从所述诊断测试日志中提取到异常信息时，确定所述异常信息对应的预设异常类型；查找所述预设异常类型对应的预设维修方案，并输出所述异常信息、所述存放位置及所述预设维修方案；可对待测试设备的诊断检测状态进行监控，并在发现异常时，向产线人员输出异常设备对应的存放位置、异常信息及对应的预设维修方案，帮助产线人员迅速定位异常设备并进行高效维护，可显著提升产线人员维护异常设备的能力及效率。本发明还提供一种测试异常处理装置、电子设备及计算机可读存储介质，具有上述有益效果。

技术领域

本发明涉及测试诊断领域，特别涉及一种测试异常处理方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。

背景技术

在计算机、服务器生产制造中，每一台设备在被生产后都需要经过诊断系统的测试诊断后才能进行包装发货，若某设备未通过测试诊断则需要产线员工到达现场进行维修处理。然而，设备产量巨大，进而寻找异常设备的存放位置需要耗费产线员工大量时间；此外，不同产线员工的学习和掌握技术的能力参差不齐，判断和处理问题上无形增加工时成本，且产线员工更换迭代更加频繁的情况下，需要不定期的培训和一定周期的成长，也是一种无形增加的人工成本。

发明内容

本发明的目的是提供一种测试异常处理方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，可帮助产线人员迅速定位异常设备并进行高效维护，可显著提升产线人员维护异常设备的能力及效率。

为解决上述技术问题，本发明提供一种测试异常处理方法，包括：

向诊断系统获取待测试设备的诊断测试日志及存放位置；

当从所述诊断测试日志中提取到异常信息时，确定所述异常信息对应的预设异常类型；

查找所述预设异常类型对应的预设维修方案，并输出所述异常信息、所述存放位置及所述预设维修方案。

可选地，所述向诊断系统获取待测试设备的诊断测试日志，包括：

向所述诊断系统获取原始诊断测试日志；

根据所述原始诊断测试日志中的设备订单信息对所述原始诊断测试日志进行设备分类，得到所述待测试设备的诊断测试日志。

可选地，所述从所述诊断测试日志中提取异常信息，确定所述异常信息对应的预设异常类型，包括：

利用所述预设异常类型对应的预设字段在所述诊断测试日志中进行匹配，得到所述异常信息。

可选地，在向诊断系统获取待测试设备的诊断测试日志及存放位置之后，还包括：

从所述诊断测试日志中提取测试状态及对应日志生成时刻；

判断所述测试状态是否为通过；

若否，则判断所述日志生成时刻是否超过预设时刻；

若超过，则输出预设告警信息；

若未超过，则进入所述从所述诊断测试日志中提取测试状态及对应日志生成时刻的步骤。

可选地，在向诊断系统获取待测试设备的诊断测试日志及存放位置之后，还包括：

当未从所述诊断测试日志中提取到所述异常信息时，则利用所述诊断测试日志统计正常设备数量；

相应的，在当从所述诊断测试日志中提取到异常信息时之后，还包括：

利用所述诊断测试日志统计异常设备数量；

利用所述正常订单数量和所述异常订单数量计算订单直通率，并将所述订单直通率添加至异常统计数据中；

输出所述异常统计数据。