[发明专利]经纬仪标校误差的检测方法在审
| 申请号： | 202111448582.6 | 申请日： | 2021-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN114136341A | 公开（公告）日： | 2022-03-04 |
| 发明（设计）人： | 陈小林;陈涛;王成龙;余毅;蔡立华;王晓明;吴志佳;王雨青 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 | 代理人： | 高一明 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 经纬仪 误差 检测 方法 | ||
1.一种经纬仪标校误差的检测方法，其特征在于，所述标校误差检测方法包括以下步骤：
S1、采集待标校前平行光管十字丝与经纬仪十字丝的图像；
S2、对所述图像中的平行光管十字丝与经纬仪十字丝两个十字丝进行检测；
S3、对检测后的所述平行光管十字丝与所述经纬仪十字丝进行灰度特征提取；
S4、对所述灰度特征提取后的边缘数据进行曲线拟合后，统计计算所述平行光管十字丝的中心点位置、所述经纬仪十字丝的中心点位置，确定所述平行光管十字丝与所述经纬仪十字丝两个十字丝的中心点位置；
S5、通过计算所述平行光管十字丝与所述经纬仪十字丝两个十字丝的中心点位置的偏差，进而得到待标校前的误差。
2.根据权利要求1所述的经纬仪标校误差的检测方法，其特征在于，所述步骤S2具体包括以下步骤：
S201、以所述图像中的平行光管十字丝与经纬仪十字丝两个十字丝为中心，进行图像提取；
S202、对提取后的所述平行光管十字丝与所述经纬仪十字丝进行识别，进而实现所述平行光管十字丝与所述经纬仪十字丝的检测。
3.根据权利要求1所述的经纬仪标校误差的检测方法，其特征在于，在所述步骤S3中所述灰度特征提取方法为：采用二值形态学细化的方法进行灰度特征提取，获得单像素宽度的平行光管十字丝与经纬仪十字丝。
4.根据权利要求1所述的经纬仪标校误差的检测方法，其特征在于，在所述步骤S4中所述曲线拟合方法为：采用高斯曲线拟合的方法进行曲线拟合。
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