[发明专利]低通道波导阵列光栅波分解复用器耦合测试系统及方法

说明书

本发明涉及低通道波导阵列光栅波分解复用器耦合测试系统及方法，其系统包括扫描光源、偏振控制器、第一耦合单点光源、第一光开关、单纤、解复用器芯片和多模光纤阵列，扫描光源与偏振控制器耦合连接，偏振控制器与第一光开关的一路通道耦合连接，第一耦合单点光源与第一光开关的另一路通道耦合连接，第一光开关、单纤、解复用器芯片和多模光纤阵列顺次耦合连接，多模光纤阵列的多个输出通道与多通道功率计的多个输入通道对应耦合连接。在耦合时实时读取光信号的功率数据，以实现单纤和解复用器芯片的精准耦合，且测试时控制第一光开关切换光路，测试不同波长光信号在解复用器芯片各个通道内的损耗数据，进而可精确测出每个通道的光学性能指标。

技术领域

本发明涉及光通信技术领域，尤其涉及低通道波导阵列光栅波分解复用器耦合测试系统及方法。

背景技术

低通道波导阵列光栅波分解复用器(AWG demux)广泛应用于高速光模块中，其主要原理是将输入光纤中的一组不同波长的光信号通过demux芯片分解为不同波长的光信号后在不同的通道输出。

波分解复用器Demux的结构如图1所示，一组不同波长的光信号通过左侧的连接头101进入光纤102后，从水晶头103输出，此时对水晶头103和芯片200进行耦合，耦合成功后，不同波长的光信号通过芯片进行分波，在通过芯片右侧的斜面进行反射，从芯片200的上端面201输出，此组件使用时，将输出光信号和一组光电二极管PD阵列进行耦合即可。

目前常规的耦合方案是输入端连接单一波长信号，然后使用大光电二极管PD阵列接收芯片上端的反射光并进行监控，这种方式中,接收端使用大光电二极管PD阵列接受芯片上端的反射光，以上耦合及测试方案存在以下问题：大光电二极管PD阵所接受的光实际是芯片所有通道反射的光信号，而不同的通道之间有一些串扰信号，该方案中无法测试出所有通道之间的隔离度指标。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对上述现有技术的不足，提供一种低通道波导阵列光栅波分解复用器耦合测试系统及方法。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下：一种低通道波导阵列光栅波分解复用器耦合测试系统，包括扫描光源、偏振控制器、第一耦合单点光源、第一光开关、单纤、解复用器芯片和多模光纤阵列，所述扫描光源与所述偏振控制器耦合连接，所述偏振控制器与所述第一光开关的一路通道耦合连接，所述第一耦合单点光源与所述第一光开关的另一路通道耦合连接，所述第一光开关、单纤、解复用器芯片和多模光纤阵列顺次耦合连接，所述多模光纤阵列的多个输出通道分别与多通道功率计的多个输入通道一一对应耦合连接，所述扫描光源、偏振控制器、第一耦合单点光源、第一光开关、解复用器芯片和所述多通道功率计分别与计算机控制系统电连接。

本发明的有益效果是：本发明的低通道波导阵列光栅波分解复用器耦合测试系统，通过第一耦合单点光源，配合多通道功率计可以在耦合时实时读取光信号的功率数据，以实现单纤和解复用器芯片的精准耦合，并且耦合成功后控制所述第一光开关切换光路，通过所述扫描光源配合所述多通道功率计测试某个波段内不同波长的光信号在解复用器芯片内各个通道内的损耗数据，进而可以精确的测出每个通道的光学性能指标以及不同通道间的隔离度。

在上述技术方案的基础上，本发明还可以做如下改进：

进一步：所述的低通道波导阵列光栅波分解复用器耦合测试系统还包括电动滑台，所述单纤、解复用器芯片和多模光纤阵列分别设置在所述电动滑台上，所述电动滑台与所述计算机控制系统电连接，且所述电动滑台可调节所述单纤和多模光纤阵列相对于所述解复用器芯片位置。

上述进一步方案的有益效果是：通过所述电动滑台可以驱动所述单纤和多模光纤阵列相对于所述解复用器芯片位置，这样可以在耦合时配合所述第一单通道功率计可以准确找到所述单纤和所述解复用器芯片的最佳耦合位置，插入损耗最小。