[发明专利]一种中压断路器剩余寿命检测方法

权利要求书

1.一种中压断路器剩余寿命检测方法，包括断路器本体和设置在断路器主回路上的霍尔电流互感器，其特征是，包括如下步骤：

S1：采集断路器分合闸电流曲线；

S2：根据断路器工作特性对电流曲线进行预处理；

S3：将预处理后的电流曲线与预存曲线进行拟合，生成电流曲线与预存曲线的相似度；

S4：通过相似度获取断路器的寿命信息；

S5：通过声光显示断路器寿命信息。

2.根据权利要求1所述的一种中压断路器剩余寿命检测方法，其特征是，所述步骤S1中采集断路器分合闸电流曲线包括：所述霍尔电流互感器获取断路器分合闸动作的电流数据，以分合闸动作时间为横坐标，离散的电流数据为纵坐标，生成断路器分合闸动作的电流曲线。

3.根据权利要求2所述的一种中压断路器剩余寿命检测方法，其特征是，步骤S2中所述的根据断路器工作特性对电流曲线进行预处理包括如下细分步骤：

步骤S21：对电流曲线进行零点校准处理，提取断路器分合闸动作时间内电流曲线的两个零点位置之间的电流曲线为有效电流段；

步骤S22：根据断路器分合闸动作阶段，提取有效电流段上的曲线特征，将有效电流段分为第一阶段、第二阶段、第三阶段、第四阶段、第五阶段五个阶段；

步骤S23：输出各个阶段的起始点、结束点和极值点的坐标值。

4.根据权利要求3所述的一种中压断路器剩余寿命检测方法，其特征是，步骤S3所述的将预处理后的电流曲线与预存曲线进行拟合，生成电流曲线与预存曲线的相似度包括：将各个阶段的曲线与预存曲线的对应阶段进行匹配，逐段计算电流曲线与预存曲线的Frechet距离L_1-5；得到各个阶段的相似度S_1-5=1/ L_1-5。

5.根据权利要求4所述的一种中压断路器剩余寿命检测方法，其特征是，步骤S4包括：根据各个阶段的相似度计算断路器的寿命信息H=a*S₁+b*S₂+c*S₃+d*S₄+e*S₅，其中a、b、c、d、e、f分别为各个阶段的附加系数与各个阶段特性相关。

6.根据权利要求5所述的一种中压断路器剩余寿命检测方法，其特征是，所述第一阶段为t0-t1，t0时刻合闸信号到来，电流上升，至t1时刻动触头开始运动；第二阶段为t1-t2，动触头运动，电流下降，至t2时刻，动触头接触静触头；第三阶段t2-t3，由于静触头阻碍动触头至停止，电流再次上升；第四阶段t3-t4，电流达到稳态；第五阶段t4-t5，动触头和静触头分开，动触头再次运动，电流再次下降，至t5时刻电流为0。

7.根据权利要求3或4或5或6所述的一种中压断路器剩余寿命检测方法，其特征是，还包括：将各个阶段的相似度与对应的各个阶段相似度预设阈值相比较，若存在某个阶段的相似度高于对应阶段的预设阈值时，通过声光显示检修信号。

8.根据权利要求7所述的一种中压断路器剩余寿命检测方法，其特征是，所述断路器包括显示单元，所述显示单元用于显示寿命信息数据和过程数据。

9.根据权利要求8所述的一种中压断路器剩余寿命检测方法，其特征是，所述过程数据包括：各个阶段的起始点、结束点极值点的坐标值和声光显示检修信号。