[发明专利]一种基于构建编码图像投影的三维测量方法和设备在审

专利信息
申请号: 202111468643.5 申请日: 2021-12-03
公开(公告)号: CN114166146A 公开(公告)日: 2022-03-11
发明(设计)人: 黎达;张志辉;高三山 申请(专利权)人: 香港理工大学深圳研究院;香港理工大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 代理人: 吴志益
地址: 518057 广东省深圳市南山区粤海街道高新*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 构建 编码 图像 投影 三维 测量方法 设备
【权利要求书】:

1.一种基于构建编码图像投影的三维测量方法,所述三维测量方法包括图像构建方法,其特征在于,所述图像构建方法包括:

获取目标物体的参数信息;

依据所述目标物体的参数信息,得到与所述目标物体所适配的匹配编码光;

将所述匹配编码光射向所述目标物体,构建所述目标物体在所述匹配编码光照射下所对应的目标图像。

2.如权利要求1所述的基于构建编码图像投影的三维测量方法,其特征在于,所述依据所述目标物体的参数信息,得到与所述目标物体所适配的匹配编码光,包括:

依据所述目标物体的参数信息,得到所述参数信息中的物体形状;

依据所述物体形状,得到与所述目标物体所适配的匹配编码光。

3.如权利要求1所述的基于构建编码图像投影的三维测量方法,其特征在于,所述依据所述目标物体的几何尺寸参数信息,得到与所述目标物体所适配的匹配编码光,包括:

依据所述目标物体的参数信息,得到所述参数信息中的物体表面粗糙程度、物体形状;

依据所述物体表面粗糙程度、所述物体形状,得到与所述目标物体所适配的匹配编码光。

4.如权利要求1所述的基于构建编码图像投影的三维测量方法,其特征在于,所述依据所述目标物体的参数信息,得到与所述目标物体所适配的匹配编码光,包括:

依据所述目标物体的参数信息,得到与所述参数信息所对应的预测编码光;

将所述预测编码光射向所述目标物体,得到所述目标物体对预测编码光的测试响应结果;

依据所述测试响应结果,得到与所述目标物体所对应的测试图像;

依据所述测试图像,得到与所述目标物体所适配的匹配编码光。

5.如权利要求4所述的基于构建编码图像投影的三维测量方法,其特征在于,所述依据所述测试图像,得到与所述目标物体所适配的匹配编码光,包括:

依据所述测试图像,得到所述测试图像所对应的像素信息;

依据所述测试图像所对应的像素信息,调整所述预测编码光所对应的属性信息,直至在调整所述属性信息之后的所述预测编码光照射下采集到的测试图像所对应的像素信息满足设定条件,得到调整所述属性信息之后的所述预测编码光;

依据调整所述属性信息之后的所述预测编码光,得到与所述目标物体所适配的匹配编码光。

6.如权利要求5所述的基于构建编码图像投影的三维测量方法,其特征在于,所述依据所述测试图像所对应的像素信息,调整所述预测编码光所对应的属性信息,直至在调整所述属性信息之后的所述预测编码光照射下采集到的测试图像所对应的像素信息满足设定条件,得到调整所述属性信息之后的所述预测编码光,包括:

依据所述预测编码光所对应的属性信息,得到所述属性信息中的光照强度和/或光线分布方式和/或所述预测编码光射向所述目标物体的入射角度;

依据所述测试响应结果,得到所述测试响应结果中的所述目标物体对所述预测编码光的漫反射光和/或镜面反射光和/或折射光;

依据所述测试图像,得到所述测试图像中由所述漫反射光和/或所述镜面反射光和/或所述折射光所构成的测试响应图像;

依据所述测试响应图像所对应的像素信息,调整所述预测编码光所对应的光照强度和/或光线分布方式和/或所述预测编码光射向所述目标物体的入射角度,直至在调整所述光照强度和/或光线分布方式和/或所述入射角度之后的所述预测编码光照射下采集到的测试响应图像所对应的像素信息满足设定条件,得到调整所述光照强度和/或光线分布方式和/或所述入射角度之后的所述预测编码光。

7.如权利要求1所述的基于构建编码图像投影的三维测量方法,其特征在于,所述将所述匹配编码光射向所述目标物体,构建所述目标物体在所述匹配编码光照射下所对应的目标图像,包括:

从所述目标物体的各个角度,采集所述目标物体所对应的各个局部图像;

依据各个所述局部图像,构建所述目标图像中的三维目标深度图像。

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