[发明专利]ATE测试通道资源配置方法、装置、设备及存储介质

说明书

本发明提供了ATE测试通道资源配置方法、装置、设备及存储介质，方法包括：接收并根据DUT的测试需求，配置DUT配置文件中的Site模式；配置DUT配置文件中DUT的所有被测管脚、每个DUT的被测管脚与Site内部测试通道编号间的映射关系；配置系统资源文件，包括配置在各Site模式下，各Site的内部测试通道编号与系统测试通道编号间的映射关系；资源映射组件根据DUT配置文件中的Site模式和映射关系，通过与系统资源文件中相应Site模式下内部测试通道编号的匹配，确定各Site的DUT被测管脚与系统测试通道的连接关系。本发明动态Site模式机制，仅简单修改少量配置文件，即可动态调整Site模式，从而实现测试效率的最大化、满足不同的测试需求，从根源上解决了现有ATE测试通道资源配置问题。

技术领域

本发明属于自动测试领域，具体涉及一种ATE测试通道资源配置方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

ATE产品一般具备数量庞大且种类繁多的测试通道资源，用户在开发DUT测试工程时，如果没有一种行之有效又便捷易用的测试通道配置机制，将会带来极大的麻烦，甚至是隐患。用户在开发DUT测试方案时，需要根据测试方案设计DUT测试板(Load Board)，而在设计DUT测试板时，其中最重要的一项工作就是要确定所有DUT的测试管脚与ATE测试通道资源之间的映射关系。在用户开发DUT测试程序时，需要通过SDK接口或相关配置文件定义上述映射关系，在测试主程序中，各操作函数只需要通过对Pin或Pinlist操作，ATE系统即可通过解析上述映射关系来确定目标测试通道并对其进行相应操作。

目前，ATE的类型包括有通用型ATE和存储型ATE。通用型ATE和存储型ATE的现有的测试通道资源配置方式如下：

一、通用型ATE测试通道资源配置

在通用型ATE中，一般来说，测试DUT的数量较少，但是DUT的管脚数量和管脚类型较多。现有技术中，某ATE厂商通过2-3种配置文件，为所有DUT的每个测试管脚直接或间接指定其相连的测试通道。以100个DUT为例，考虑简单的模型，假如DUT有4个IO管脚需要连接到ATE的数字测试通道，那么通道资源的分配方案可以为：

DUT1：管脚1—通道1，管脚2—通道2，管脚3—通道3，管脚4—通道4

DUT2：管脚1—通道5，管脚2—通道6，管脚3—通道7，管脚4—通道8

…

DUT100：管脚1—通道397，管脚2—通道398，管脚3—通道399，管脚4—通道400。

该技术属于端到端直接定义了这种连接关系，在DUT数量较少时问题不明确，但是当DUT数量较多时，使用该技术就会有较多问题，例如，当DUT多达1000个以上时，如果需要为每一个DUT的每一个管脚分配测试通道资源，将带来较大的工作量，其过程会非常繁琐、枯燥，且较容易出现差错，检查起来也不便利。另外，测试通道资源是按照具体的通道编号甚至是连接器出接口的编号来定义的，这些编号给用户直观感受是毫无意义的，往往需要额外借助另一张索引表才能理解这些通道号具体代表了什么类型的测试通道以及在系统中的位置。

二.存储型ATE测试通道资源配置

在存储型ATE中，一般来说，测试DUT的数量较多，但是DUT的管脚数量和管脚类型较少。有的ATE厂商会采用Multi-site机制将系统测试通道资源进行分组，通过SDK接口定义1个Site内DUT的测试管脚和测试通道之间的映射关系，测试通道的编号是固定的。然而，该配置方法中测试通道的固定，带来的问题是，只要调整了Site内的某个DUT与测试通道的连接关系，其他所有Site相对应的DUT与测试通道的连接关系都会改变，不够灵活。

综上，现有技术中ATE测试通道资源配置方法存在的主要问题如下：