[发明专利]一种交调干扰定位方法、装置及存储介质

说明书

本申请实施例公开了一种交调干扰定位方法、装置及存储介质，交调干扰定位装置包括：射频信号源、频谱分析仪、扫描探头、双工器和待测显示屏；射频信号源，用于以测试频段对应的最大发射功率，提供测试频段内的射频信号；待测显示屏处于亮屏状态，且显示亮度为最大亮度；双工器，与射频信号源、频谱分析仪和扫描探头分别连接，用于抑制射频信号进入频谱分析仪；扫描探头，用于发射射频信号，同时扫描待测显示屏中每个器件，接收每个器件在测试频段对应的接收频段内的噪声信号；频谱分析仪，用于显示扫描探头接收到的噪声信号的幅度；待测显示屏中，在接收频段内的噪声信号的幅度最高的器件，为产生交调干扰的器件。

技术领域

本申请实施例涉及通信技术领域，尤其涉及一种交调干扰定位方法、装置及存储介质。

背景技术

交叉调制是指一个受调制的干扰(如干扰电台)与要接收的信号同时作用于接收机，由于高放或变频器的非线性作用，会将干扰的调制信号转移到信号载波上，而形成交叉调制，由此造成的干扰，称交调干扰。系统交调有天线交调、接收机滤波器交调等，通常将因为天线、馈线等无源器件的非线性引起的交调称为无源交调。

目前，在手机在某一频段处于最大发射状态时，容易与显示屏未知非线性器件产生交调干扰，被天线接收，影响天线性能。

发明内容

本申请实施例提供一种交调干扰定位方法、装置及存储介质，可以快速准确的定位显示屏中产生交调干扰的器件，从而支持从源头上解决噪声问题，提高天线性能。

本申请实施例的技术方案是这样实现的：

本申请实施例提供了一种交调干扰定位装置，包括：射频信号源、频谱分析仪、扫描探头、双工器和待测显示屏；

射频信号源，用于以测试频段对应的最大发射功率，提供所述测试频段内的射频信号；

所述待测显示屏处于亮屏状态，且显示亮度为最大亮度；

所述双工器，与所述射频信号源、所述频谱分析仪和所述扫描探头分别连接，用于抑制所述射频信号进入所述频谱分析仪；

所述扫描探头，用于发射所述射频信号，同时扫描所述待测显示屏中每个器件，接收每个器件在所述测试频段对应的接收频段内的噪声信号；

所述频谱分析仪，用于显示所述扫描探头接收到的噪声信号的幅度；所述待测显示屏中，在所述接收频段内的噪声信号的幅度最高的器件，为产生交调干扰的器件。

在上述交调干扰定位装置中，所述双工器包括发送端、接收端和公共端；

所述发送端与所述射频信号源连接，所述接收端与所述频谱分析仪连接，所述公共端与所述扫描探头连接。

在上述交调干扰定位装置中，还包括：第一射频线、第二射频线和第三射频线；

所述第一射频线，一端与所述射频信号源连接，另一端与所述发送端连接；

所述第二射频线，一端与所述频谱分析仪连接，另一端与所述接收端连接；

所述第三射频线，一端与所述扫描探头连接，另一端与所述公共端连接。

在上述交调干扰定位装置中，所述频谱分析仪的扫描频率，与所述测试频段和所述接收频段匹配。

在上述交调干扰定位装置中，所述待测显示屏包括：柔性电路板和集成电路板；

所述扫描探头，具体用于扫描所述柔性电路板和所述集成电路板上部署的每个器件，接收每个器件在所述接收频段内的噪声信号。

本申请实施例提供了一种交调干扰定位方法，应用于上述交调干扰定位装置，所述方法包括：

通过射频信号源，以测试频段对应的最大发射功率，提供所述测试频段内的射频信号；