[发明专利]定位片成像方法、装置、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202111476875.5 | 申请日: | 2021-12-02 |
公开(公告)号: | CN114190960A | 公开(公告)日: | 2022-03-18 |
发明(设计)人: | 刘谦;李宇翔;许文挺 | 申请(专利权)人: | 海南大学;武汉联影生命科学仪器有限公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231 | 代理人: | 黄君军 |
地址: | 570228 海*** | 国省代码: | 海南;46 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 定位 成像 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种定位片成像方法,其特征在于,包括:
获取扫描对象多个不同部位的多个投影图像;
对所述多个投影图像中的各投影图像进行匀场校正,获得多个匀场图像;
基于所述多个匀场图像获得定位片图像。
2.根据权利要求1所述的定位片成像方法,其特征在于,所述对所述多个投影图像中的各投影图像进行匀场校正,获得多个匀场图像,包括:
确定校正系数矩阵;
根据所述校正系数矩阵和所述投影图像,获得所述匀场图像。
3.根据权利要求1所述的定位片成像方法,其特征在于,所述基于所述多个匀场图像获得定位片图像,包括:
确定所述多个匀场图像中的每一个匀场图像对所述定位片图像的插值权重;
根据所述多个匀场图像和所述插值权重获得所述定位片图像。
4.根据权利要求3所述的定位片成像方法,其特征在于,所述确定所述多个匀场图像中的每一个匀场图像对所述定位片图像的插值权重,包括:
将所述匀场图像映射为目标坐标系下的目标匀场图像;
获取所述目标匀场图像中像素点的第一像素尺寸以及所述定位片图像中像素点的第二像素尺寸;
根据所述第一像素尺寸和所述第二像素尺寸确定所述目标匀场图像对所述定位片图像的插值权重。
5.根据权利要求4所述的定位片成像方法,其特征在于,所述根据所述第一像素尺寸和所述第二像素尺寸确定所述目标匀场图像对所述定位片图像的插值权重,包括:
根据所述第一像素尺寸和所述第二像素尺寸确定在所述目标匀场图像中各行像素点覆盖范围内的所述定位片图像中的至少一行像素点;
确定所述目标匀场图像中各行像素点对其覆盖的定位片图像中的至少一行像素点的贡献值;
确定所述目标匀场图像中各行像素点的锥角权重;
根据所述贡献值和所述锥角权重确定所述目标匀场图像对所述定位片图像的插值权重。
6.根据权利要求5所述的定位片成像方法,其特征在于,所述根据所述第一像素尺寸和所述第二像素尺寸确定在所述目标匀场图像中各行像素点覆盖范围内的所述定位片图像中的至少一行像素点,包括:
确定所述目标匀场图像中的各行像素点在所述目标坐标系中的第一像素点坐标;
沿预设方向,获取所述定位片图像中第一行像素点在所述目标坐标系中的第二像素点坐标;
根据所述第一像素点坐标和所述第二像素点坐标确定在所述目标匀场图像中各行像素点覆盖范围内的所述定位片图像中的至少一行像素点。
7.根据权利要求5所述的定位片成像方法,其特征在于,所述确定所述匀场图像中各行像素点对其覆盖的定位片图像中的至少一行像素点的贡献值,包括:
确定所述匀场图像中各行像素点的中心线与所述定位片图像中各行像素点的中心线之间的间距;
根据所述间距确定所述匀场图像中各行像素点对其覆盖的定位片图像中的至少一行像素点的贡献值。
8.根据权利要求5所述的定位片成像方法,其特征在于,所述确定所述目标匀场图像中各行像素点的锥角权重,包括:
确定所述目标匀场图像中各行像素点的行索引;
确定所述目标匀场图像中的最大行索引;
基于所述各行像素点的行索引以及所述最大行索引确定所述目标匀场图像中各行像素点的锥角权重。
9.一种定位片成像装置,其特征在于,包括:
投影图像获取单元,用于获取扫描对象多个不同部位的多个投影图像;
图像校正单元,用于对所述多个投影图像中的各投影图像进行匀场校正,获得多个匀场图像;
图像拼接单元,用于基于所述多个匀场图像获得定位片图像。
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