[发明专利]一种I2C总线信号的测试方法和装置在审

专利信息
申请号: 202111479706.7 申请日: 2021-12-06
公开(公告)号: CN114281620A 公开(公告)日: 2022-04-05
发明(设计)人: 方巍 申请(专利权)人: 阿里巴巴达摩院(杭州)科技有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F9/445
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 赵娟
地址: 311121 浙江省杭州市余杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 i2c 总线 信号 测试 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种I2C总线信号的测试方法,其特征在于,应用于测试设备,所述测试设备与示波器和待测主板连接,所述示波器与所述待测主板连接,包括:

在检测到预设事件时,确定目标待测试项;

根据所述目标待测试项,对所述示波器进行触发条件的设置;

向所述示波器发送针对所述目标待测试项的测试指令,并获取所述示波器针对所述测试指令测量的波形数据,所述波形数据为所述示波器在所述待测主板中I2C总线信号满足所述触发条件时测量的;

对所述波形数据进行转换,得到针对所述目标待测试项的结果数据。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述波形数据进行转换,得到针对目标待测试项的结果数据,包括:

获取针对所述示波器的配置参数;

根据所述配置参数,将所述波形数据中点的位置信息转换为电压信息;

根据所述波形数据中点的电压信息,得到二进制信息;

根据所述二进制信息,得到针对目标待测试项的结果数据。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述波形数据中点的电压信息,得到二进制信息,包括:

根据所述波形数据中点,确定多个点集合;

针对每个点集合,根据其所包含的点的电压信息,得到电压平均值;

根据所述多个点集合的电压平均值,得到二进制信息。

4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述根据所述二进制信息,得到针对所述目标待测试项的结果数据,包括:

在所述目标待测试项为读数据类型的情况下,确定目标上升沿范围;

按照所述目标上升沿范围,从所述二进制信息中,得到针对目标待测试项的结果数据。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,还包括:

判断所述二进制信息是否包含针对上升沿或下降沿的特征信息;

在所述二进制信息包含针对上升沿或下降沿的特征信息的情况下,执行所述根据所述二进制信息,得到针对目标待测试项的结果数据;

在所述二进制信息未包含针对上升沿或下降沿的特征信息的情况下,返回执行所述获取所述示波器针对所述测试指令生成的波形数据。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述触发条件包括触发模式,在所述触发模式为边沿触发模式的情况下,所述触发条件还包括用于触发测量的目标上升沿或目标下降沿的标识。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述根据所述目标待测试项,对所述示波器进行触发条件的设置之前,还包括:

对所述示波器进行初始化。

8.一种I2C总线信号的测试装置,其特征在于,应用于测试设备,所述测试设备与示波器和待测主板连接,所述示波器与所述待测主板连接,包括:

目标待测试项确定模块,用于在检测到预设事件时,确定目标待测试项;

触发条件设置模块,用于根据所述目标待测试项,对所述示波器进行触发条件的设置;

波形数据获取模块,用于向所述示波器发送针对所述目标待测试项的测试指令,并获取所述示波器针对所述测试指令测量的波形数据,所述波形数据为所述示波器在所述待测主板中I2C总线信号满足所述触发条件时测量的;

结果数据得到模块,用于对所述波形数据进行转换,得到针对目标待测试项的结果数据。

9.一种电子设备,其特征在于,包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并能够在所述处理器上运行的计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的I2C总线信号的测试方法。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的I2C总线信号的测试方法。

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