[发明专利]存储器裸片上的存储器位置年限跟踪

权利要求书

1.一种方法，其包括：

致使存储器裸片通电，所述存储器裸片包括：

一组物理存储器位置；

老化分组，其与所述组物理存储器位置相关联，所述老化分组包括与所述组物理存储器位置不同的所述存储器裸片的一或多个物理存储器位置；及

逻辑，其用于跟踪所述组物理存储器位置的程序擦除计数，所述程序擦除计数描述数据已写入到所述组物理存储器位置或从所述组物理存储器位置擦除的次数，且所述程序擦除计数存储在所述老化分组上；

致使预加载数据的一部分存储在所述组物理存储器位置上，将预加载数据的所述部分存储在所述组物理存储器位置上致使所述程序擦除计数被更新；

致使所述存储器裸片断电；及

在所述存储器裸片断电之后，将所述存储器裸片焊接安装到印刷电路板。

2.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：

在所述存储器裸片经焊接安装到所述印刷电路板之后，通过对所述印刷电路板执行至少一个回流焊接工艺将一或多个组件焊接安装到所述印刷电路板。

3.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：

在所述印刷电路板通电之后：

由操作地耦合到所述印刷电路板的处理装置，基于所述老化分组的电荷损耗值并进一步基于所述程序擦除计数来确定所述组物理存储器位置的年限。

4.根据权利要求3所述的方法，其中所述基于所述老化分组的所述电荷损耗值并进一步基于所述程序擦除计数来确定所述组物理存储器位置的所述年限包括：

测量所述老化分组的当前电荷分布；

基于所述当前电荷分布与参考电荷分布之间的差来确定所述电荷损耗值；

从所述老化分组获得所述程序擦除计数；及

通过将所述电荷损耗值乘以所述程序擦除计数来计算所述组物理存储器位置的所述年限。

5.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：

在所述印刷电路板通电之后：

由操作地耦合到所述印刷电路板的处理装置，基于所述老化分组的电荷损耗值来确定电压电平阈值，所述电压电平阈值用于从所述组物理存储器位置读取数据；及

由所述处理装置基于所述电压电平阈值从所述组物理存储器位置读取预加载数据的所述部分。

6.根据权利要求5所述的方法，其中所述基于所述老化分组的所述电荷损耗值来确定所述电压电平阈值包括：

存取预特性化数据以获得与所述电荷损耗值相关联的所述电压电平阈值，所述预特性化数据描述电压电平阈值与电荷损耗值之间的关联。

7.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：

在所述印刷电路板通电之后：

由耦合到所述印刷电路板的处理装置，基于所述老化分组的电荷损耗值确定所述组物理存储器位置的刷新准则；及

由所述处理装置基于所述刷新准则对存储在所述组物理存储器位置上的数据执行刷新过程。

8.根据权利要求7所述的方法，其中所述基于所述老化分组的所述电荷损耗值来确定所述组物理存储器位置的所述刷新准则包括：

存取预特性化数据以获得与所述电荷损耗值相关联的所述刷新准则，所述预特性化数据描述刷新准则与电荷损耗值之间的关联。

9.根据权利要求1所述的方法，其中所述老化分组的所述一或多个物理存储器位置包括一或多个单电平单元SLC块。

10.根据权利要求1所述的方法，其中所述老化分组是所述存储器裸片的多个老化分组的部分，所述多个老化分组中的每一老化分组与一组不同的物理存储器位置相关联，并且存储所述组不同的物理存储器位置的个别程序擦除计数。