[发明专利]板级样品试验系统及试验方法在审
申请号: | 202111488778.8 | 申请日: | 2021-12-07 |
公开(公告)号: | CN114355076A | 公开(公告)日: | 2022-04-15 |
发明(设计)人: | 李键坷;雷志锋;张战刚;何玉娟;彭超;黄云;路国光;谭旭 | 申请(专利权)人: | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/04;G01R1/18 |
代理公司: | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 吴辉燃 |
地址: | 511300 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 样品 试验 系统 方法 | ||
本发明公开了一种板级样品试验系统及试验方法,屏蔽体用于屏蔽辐射,屏蔽体内设有试验空间,屏蔽体包括用于开启或关闭试验空间的屏蔽门体,样品放置台包括基座及样品夹具,样品夹具用于固定样品,样品夹具与基座可拆卸连接,基座设于试验空间内,基座能够带动样品夹具分别沿第一方向、第二方向移动,第一方向及第二方向呈夹角设置。可在屏蔽体外将样品固定于样品夹具上,随后将样品夹具送入试验空间内,在基座上沿第一方向或第二方向对样品的位置进行调整,操作人员可撤出试验空间外,对样品进行辐射试验,可减少操作人员在试验空间内的停留时间,能够减少辐射试验对人体的伤害,具有更好的安全性。
技术领域
本发明涉及辐射试验设备技术领域,特别是涉及一种板级样品试验系统及试验方法。
背景技术
在辐射环境内工作的设备会持续遭受辐射,导致器件数据出错、功能失效甚至烧毁,且随器件特征尺寸减小、集成密度提高而日趋严重,对电子器件的可靠性产生严重影响。因此需要验证产品的辐射可靠性,探索电子器件失效机理,反馈加固设计方向。如今国内外尚未有将系统性的设计,辐射对人体有伤害,且通用的试验装置,由于使用了电子元器件,易在辐射环境下,尤其是在高能粒子辐射环境下失效,从试验安全和试验效率考虑,试验人员尽可能不进入辐射间,试验人员及试验设备停留在辐射间内的时间不宜过长。
发明内容
基于此,本发明在于克服现有技术存在的问题,提供一种可减少停留在辐射环境内时间的板级样品试验系统及试验方法。
其技术方案如下:
一种板级样品试验系统,包括:
屏蔽体,所述屏蔽体用于屏蔽辐射,所述屏蔽体内设有试验空间,所述屏蔽体包括用于开启或关闭所述试验空间的屏蔽门体;及
样品放置台,所述样品放置台包括基座及样品夹具,所述样品夹具用于固定样品,所述样品夹具与所述基座可拆卸连接,所述基座设于所述试验空间内,所述基座能够带动所述样品夹具分别沿第一方向、第二方向移动,所述第一方向及所述第二方向呈夹角设置。
上述板级样品试验系统,可在屏蔽体外将样品固定于样品夹具上,随后将样品夹具送入试验空间内,并将样品夹具安装于基座上,同时可在基座上沿第一方向或第二方向对样品的位置进行调整,使样品的布置位置更准确,可提高试验精度,在调整完成后操作人员可撤出试验空间外并关闭屏蔽门体,对样品进行辐射试验,试验结束后,可将样品夹具从基座上拆下并取出试验空间,由于操作人员无需移动整个样品放置台,可简化将样品送入或移出试验空间的操作,因此可减少操作人员在试验空间内的停留时间,降低操作人员受到的辐射量,能够减少辐射试验对人体的伤害,具有更好的安全性。
在其中一个实施例中,所述基座包括第一座体、第二座体及第三座体,所述第二座体可滑动设于所述第一座体上,所述第二座体相对所述第一座体沿所述第一方向或与所述第一方向相反的方向往复移动,所述第三座体可滑动设于所述第二座体上,所述第三座体相对所述第二座体沿所述第二方向或与所述第二方向相反的方向往复移动,所述样品夹具与所述第三座体可拆卸连接。
在其中一个实施例中,所述移动座组件还包括第四座体,所述第四座体与所述第二座体可转动配合,使所述第二座体相对所述第四座体的转动轴线沿所述第二方向设置,所述第四座体可滑动设于所述第一座体上,所述第四座体相对所述第一座体沿所述第二方向或与所述第二方向相反的方向往复移动。
在其中一个实施例中,上述板级样品试验系统还包括底座,当所述基座为一个时,所述第一座体沿第三方向滑动设于所述底座上,所述第三方向、所述第一方向构成的平面与所述第二方向呈夹角设置;当所述基座为至少两个时,至少一个所述基座的第一座体沿所述第三方向滑动设于所述底座上,相邻的两个所述基座的第一座体能够相对移动。
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