[发明专利]一种自动循环上电测试方法及测试装置

说明书

本发明公开了一种自动循环上电测试方法，涉及电子信息技术技术领域，解决了现有技术不能同时控制和检测测试设备上电断电的技术问题。该方法包括步骤：S100：控制设备向继电器处理设备发送通电请求；S200：继电器处理设备收到通电请求，闭合闸刀；S300：控制设备向测试设备发送测试请求；S400：测试设备收到测试请求，向控制设备发送反馈信息；S500：控制设备设置等待时间窗口，等待接收反馈信息；S600：控制设备判断测试设备是否启动成功；S700：控制设备向继电器处理设备发送断电请求；S800：继电器处理设备收到断电请求，断开闸刀；S900：控制设备循环步骤S100到S700，达到预设次数时，停止测试。本发明用于控制测试设备上电断电，同时检测其是否启动成功。

技术领域

本发明涉及电子信息技术领域，尤其涉及一种自动循环上电测试方法及测试装置。

背景技术

随着技术的发展，人们对于设备的可靠性提出了更高的要求。为了保证设备的可靠性，需要在设备出厂前对设备进行可靠性测试。循环上电测试是其中一项重要的可靠性测试项目。循环上电测试主要测试设备的上电功能，统计设备的上电成功率。

现有的循环上电测试中，一般通过设定电源的上电持续时间、断电持续时间及循环次数，以使得电源间断且循环地给测试设备供电。循环上电测试大多都是通过继电器定时控制开关来循环上电断电，且为了确保测试设备正常上电，继电器定时设置的时间会较长，影响测试效率。而且测试设备每次上电后，不能够自动检测测试设备是否启动成功。这就需要一种能够自动控制测试设备上电断电，同时在测试设备每次上电后自动检测它是否启动成功的自动循环上电测试方法。

在实现本发明过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：

现有的上电循环测试方法及测试装置不能同时自动控制测试设备上电断电，在测试设备上电后自动检测其是否启动成功。

发明内容

本发明的目的在于提供一种自动循环上电测试方法及测试装置，以解决现有技术中存在的上电循环测试方法及测试装置不能同时自动控制测试设备上电断电，在测试设备上电后自动检测其是否启动成功的技术问题。本发明提供的诸多技术方案中的优选技术方案所能产生的诸多技术效果详见下文阐述。

为实现上述目的，本发明提供了以下技术方案：

本发明提供的一种自动循环上电测试方法，包括以下步骤：

S100：控制设备向继电器处理设备发送通电请求；

S200：所述继电器处理设备收到所述通电请求，闭合闸刀；

S300：所述控制设备向测试设备发送测试请求；

S400：所述测试设备收到所述测试请求，向所述控制设备发送反馈信息；

S500：所述控制设备设置等待时间窗口，等待接收所述反馈信息；

S600：所述控制设备判断所述测试设备是否启动成功；

S700：所述控制设备向所述继电器处理设备发送断电请求；

S800：所述继电器处理设备收到所述断电请求，断开所述闸刀；

S900：所述控制设备循环步骤S100到S700，达到预设次数时，停止测试。

优选的，所述测试设备为集中器、交换机、路由器或网络设备接入点。

优选的，所述预设次数的次数为100，每次所述次数的间隔时长为300ms。

优选的，所述S600步骤中，所述控制设备根据是否在所述等待时间窗口内收到所述反馈信息，判断所述测试设备是否启动成功；

若是，则判断所述测试设备启动成功，记录测试结果为pass；