[发明专利]一种测量装置

权利要求书

1.一种测量装置，其特征在于，包括：

机架(1)；

承载机构(2)，所述承载机构(2)设在所述机架(1)上，所述承载机构(2)用于承载试样(100)；

扫描机构(3)，所述扫描机构(3)可活动地设在所述机架(1)上，所述扫描机构(3)与所述试样(100)之间具有间隙，所述扫描机构(3)用于测量所述试样(100)的截面尺寸；

第一测量机构(4)，所述第一测量机构(4)可活动地设在所述机架(1)上，所述第一测量机构(4)与所述试样(100)之间具有间隙，所述第一测量机构(4)用于测量所述试样(100)各区域的厚度参数；

第二测量机构(5)，所述第二测量机构(5)可活动地设在所述机架(1)上，所述第二测量机构(5)用于测量所述试样(100)在不同方向上的动态模量。

2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述第一测量机构(4)包括：

测量件(41)，所述测量件(41)具有两个在Z轴方向上间隔设置的测量端，两个所述测量端分别位于所述试样(100)的上侧和下侧；

驱动组件(42)，所述驱动组件(42)设在所述机架(1)上，所述驱动组件(42)的输出端与所述测量件(41)连接，所述驱动组件(42)能够驱动所述测量件(41)在XOY平面上移动。

3.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述测量件(41)包括：

U形支架(411)，所述U形支架(411)与所述驱动组件(42)的输出端连接；

两个测量部(412)，两个所述测量部(412)分别设在所述U形支架(411)的两个支臂的端部上，一个所述测量部(412)能够获取其与所述试样(100)的顶壁处的距离，另一个所述测量部(412)能够获取其与所述试样(100)的底壁处的距离。

4.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述第二测量机构(5)包括两个超声波发生器(51)，两个所述超声波发生器(51)分别可活动地设在所述试样(100)的两端。

5.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述承载机构(2)包括：

第一承载件(21)，所述第一承载件(21)沿Y轴方向可活动地设在所述机架(1)上；

第二承载件(22)，所述第二承载件(22)沿X轴方向可活动地设在所述机架(1)上；

第三承载件(23)，所述第三承载件(23)与所述第二承载件(22)在X轴方向上间隔设置，所述第三承载件(23)沿X轴方向可活动地设在所述机架(1)上。

6.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述承载机构(2)具有多个承载部(24)，多个所述承载部(24)均开设有台阶(241)，多个所述台阶(241)用于承载所述试样(100)。

7.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括：

X轴驱动机构(61)，所述X轴驱动机构(61)设在所述机架(1)上，所述承载机构(2)的一部分和所述第二测量机构(5)均设在所述X轴驱动机构(61)的输出端；

Y轴驱动机构(62)，所述Y轴驱动机构(62)设在所述机架(1)上，所述承载机构(2)的另一部分设在所述Y轴驱动机构(62)的输出端。

8.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括扫描驱动机构(63)，所述扫描驱动机构(63)设在所述机架(1)上，所述扫描机构(3)设在所述扫描驱动机构(63)的输出端，所述扫描驱动机构(63)用于驱动所述扫描机构(3)沿X轴方向或Y轴方向移动。

9.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括摄像机构(7)，所述摄像机构(7)沿Z轴方向可活动地设在所述机架(1)上，所述摄像机构(7)朝向所述试样(100)设置。

10.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述扫描机构(3)包括：

扫描架(31)，所述扫描架(31)可活动地设在所述机架(1)上；

扫描块(32)，所述扫描块(32)设在所述扫描架(31)上，所述扫描块(32)沿X轴方向或Y轴方向延伸设置，在X轴方向或Y轴方向上，所述扫描块(32)的两端伸出所述试样(100)的两侧。