[发明专利]用于液冷电子设备的运维测试装置有效

专利信息
申请号: 202111495914.6 申请日: 2021-12-09
公开(公告)号: CN113905600B 公开(公告)日: 2022-10-11
发明(设计)人: 陈前;巫跃凤;刘方宇;高阳;郭海丰 申请(专利权)人: 深圳比特微电子科技有限公司
主分类号: H05K7/20 分类号: H05K7/20
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 郭同义;郑红娟
地址: 518000 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 用于 电子设备 测试 装置
【说明书】:

发明公开了一种用于液冷电子设备的运维测试装置,该运维测试装置安装于液冷电子设备,该运维测试装置包括供液单元,供液单元的第一出液口通过供液管路连通至液冷电子设备的进液口,供液单元的第一进液口通过第一回液管路连通至液冷电子设备的出液口,并且,液冷电子设备的进液口还通过运维测试装置的进气管路连通至充气单元,该充气单元用于在供液管路关闭时向液冷电子设备充气,从而使冷却液从液冷电子设备中排出;从而可以保障对液冷电子设备进行多种模式测试工作时的运行环境,解决了现有技术的液冷电子设备在进行不同测试工作时需要采用不同工具导致的成本较高、效率较低的技术问题,结构简单,成本较低,提升了测试的工作效率。

技术领域

本发明涉及液冷散热技术领域,尤其涉及一种用于液冷电子设备的运维测试装置。

背景技术

电子设备应用液冷散热逐渐成为主流,例如电子设备(服务器、算力板等)与液冷板结合构成冷板式液冷电子设备。

现有技术中,为保证正常工作,该液冷电子设备通常需要进行一系列繁琐的老化、运维、测试等步骤,包括出厂前的高低温或常温的老化测试、液体循环清洁,运输前的液体排空、工作前的气体排空、维修后的老化测试等,每项步骤均需要采用不同的工具,成本较高,并且效率较低。

发明内容

针对上述技术问题的至少一个方面,本申请实施例提供了一种用于液冷电子设备的运维测试装置,该运维测试装置安装于液冷电子设备,该运维测试装置包括供液单元,供液单元的第一出液口通过供液管路连通至液冷电子设备的进液口,供液单元的第一进液口通过第一回液管路连通至液冷电子设备的出液口,即,在供液单元和液冷电子设备之间通过供液管路与第一回液管路构成冷却液的循环回路;并且,液冷电子设备的进液口还通过运维测试装置的进气管路连通至充气单元,该充气单元用于在供液管路关闭时向液冷电子设备充气,从而使冷却液从液冷电子设备中排出。

也就是说,本申请实施例提供的运维测试装置,一方面,在供液单元与液冷电子设备之间构建冷却液的循环回路,方便理解的,该供液单元通过循环回路可以使冷却液循环流动从而对液冷电子设备液冷板流道内的冷却液进行循环清洁,或者排空液冷板流道内部的空气,以对后续的测试工作做准备;另一方面,该供液单元通过循环回路还可以为液冷电子设备提供恒温恒流的循环冷却液,从而在液冷电子设备进行诸如老化测试、散热性能测试等时提供散热环境;再一方面,该运维测试装置的充气单元还通过进气管路连通至液冷电子设备的进液口,方便理解的,充气单元通过向液冷电子设备的液冷板流道充气从而能够使液冷电子设备排空冷却液,进而方便对液冷电子设备的转运等。

总的来说,本实施例的运维测试装置通过在供液单元和液冷电子设备之间构建循环回路以及在液冷电子设备上外接充气单元,可以保障对液冷电子设备进行多种模式测试工作时的散热等运行环境,从而解决了现有技术的液冷电子设备在进行不同测试工作时需要采用不同工具导致的成本较高、效率较低的技术问题,实现了通过一种工具即可满足液冷电子设备进行多种测试需求的技术效果,结构简单,成本较低,并且省却了不同工具之间切换的步骤,提升了测试的工作效率。

本申请实施例提供一种用于液冷电子设备的运维测试装置,所述运维测试装置安装于液冷电子设备,所述液冷电子设备具有进液口和出液口,所述运维测试装置包括:

供液单元,至少具有第一进液口和第一出液口;

供液管路,所述供液管路的两端分别连通至所述第一出液口和所述进液口;

第一回液管路,所述第一回液管路的两端分别连通至所述出液口和所述第一进液口;

其中,所述进液口还通过进气管路连通至充气单元;

所述供液管路和所述第一回液管路构成循环回路,以使冷却液在所述供液单元和所述液冷电子设备之间循环;

所述充气单元用于在所述供液管路关闭时通过所述进气管路向所述液冷电子设备充气,以使所述冷却液从所述液冷电子设备排出。

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