[发明专利]一种测试多芯光纤纤芯的光路系统及方法有效

专利信息
申请号: 202111499372.X 申请日: 2021-12-09
公开(公告)号: CN114325956B 公开(公告)日: 2022-10-11
发明(设计)人: 胡远朋;茅昕;刘璐;张智恒;于竞雄;刘懋恂;熊壮 申请(专利权)人: 长飞光纤光缆股份有限公司
主分类号: G02B6/38 分类号: G02B6/38;G01B11/27;G01B11/08;G01B11/24;G01M11/08
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 胡琦旖
地址: 430073 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 多芯光 纤纤 系统 方法
【说明书】:

发明属于多芯光纤测试技术领域,公开了一种测试多芯光纤纤芯的光路系统及方法。本发明针对被测多芯光纤中的某一纤芯进行测试时,对被测多芯光纤的第一端面、第二端面分别进行轴中心对准;将点光源的光耦合进被测多芯光纤的某一端面,对另一端面进行图像采集,根据采集的图像依次实现两个端面的纤芯对准;将宽谱光源发出的光传播至被测多芯光纤的第一端面,光由第二端面出来并传播至第二相机,完成几何参数测试;保持上述光路不变,将第二端面射出的光传播至光电探测器,完成截止波长测试;该纤芯测量完成后,重复上述步骤,依次完成其它纤芯的测试。利用本发明提供的光路系统和方法能够对多芯光纤直接进行测试,自动化程度高、操作简单。

技术领域

本发明属于多芯光纤测试技术领域,更具体地,涉及一种测试多芯光纤纤芯的光路系统及方法。

背景技术

光纤在各行各业中有着广泛的应用,因此对光纤性能进行测试是非常重要的,尤其需要对光纤进行几何参数测试、截止波长测试。但是,目前市场上的光纤测试系统,不论是多模光纤光路系统还是单模光纤光路系统都无法对多芯光纤纤芯直接进行测试。

发明内容

本发明通过提供一种测试多芯光纤纤芯的光路系统及方法,解决现有技术中光纤测试系统无法对多芯光纤直接进行测试的问题。

本发明提供一种测试多芯光纤纤芯的方法,测试被测多芯光纤中的某一纤芯时,包括以下步骤:

步骤1、对被测多芯光纤的第一端面、第二端面分别进行轴中心对准;

步骤2、将点光源发出的光传播至被测多芯光纤的第二端面,对被测多芯光纤的第一端面进行图像采集,根据采集的图像对被测多芯光纤的第一端面进行纤芯对准,使被测多芯光纤中待测试的纤芯处于光路的轴中心位置;

步骤3、将所述点光源发出的光传播至被测多芯光纤的第一端面,对被测多芯光纤的第二端面进行图像采集,根据采集的图像对被测多芯光纤的第二端面进行纤芯对准,使被测多芯光纤中已被照亮的待测试的纤芯处于光路的轴中心位置;

步骤4、将宽谱光源发出的光传播至被测多芯光纤的第一端面,光由被测多芯光纤的第二端面出来并传播至第二相机,完成被测多芯光纤的几何参数测试;

步骤5、保持所述宽谱光源发出的光传播至被测多芯光纤的第一端面的光路不变,将被测多芯光纤的第二端面射出的光传播至光电探测器,完成被测多芯光纤的截止波长测试;

该纤芯测试完成后,重复上述步骤,依次完成其它纤芯的测试。

优选的,在对被测多芯光纤进行测试之前,将被测多芯光纤的第一端面放置在第一自动三轴位移台上,将被测多芯光纤的第二端面放置在第二自动三轴位移台上;在被测多芯光纤的第一端面对应的一侧区域分别设置第一照明器件、第一聚焦准直器件、第一半透半反镜片、所述宽谱光源和第一相机;在被测多芯光纤的第二端面对应的一侧区域分别设置第二照明器件、第二聚焦准直器件、第二半透半反镜片、所述第二相机和所述光电探测器;在所述第一半透半反镜片和所述第二半透半反镜片之间设置所述点光源。

优选的,被测多芯光纤的第一端面对应的区域沿一轴线分别设置所述第一照明器件、所述第一聚焦准直器件、所述第一半透半反镜片和所述宽谱光源,所述第一相机设置在所述第一半透半反镜片的反射光路上;被测多芯光纤的第二端面对应的区域沿一轴线分别设置所述第二照明器件、所述第二聚焦准直器件、所述第二半透半反镜片和所述第二相机,所述光电探测器设置在所述第二半透半反镜片的反射光路上。

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