[发明专利]一种基于聚3-己基噻吩的电晕放电检测材料及其制备方法

说明书

本发明公开了一种基于聚3‑己基噻吩的电晕放电检测材料及其制备方法，包括：1)将聚3‑己基噻吩均匀分散于有机溶剂中，得到聚3‑己基噻吩溶液；2)将步骤1)中得到的聚3‑己基噻吩溶液在检测材料上均匀旋涂成膜，得到聚3‑己基噻吩检测结构；3)将步骤2)中制得的聚3‑己基噻吩检测结构放置在电晕放电的环境中，利用电晕放电臭氧环境，使聚3‑己基噻吩检测结构发生氧化反应，得到正一价聚3‑己基噻吩检测结构；4)测试步骤3)中得到正一价聚3‑己基噻吩检测结构在不同电压和不同时间放电处理下的UV‑Vis光谱，得到峰值下降和峰位蓝移，以此作为判断电晕放电强度的依据。本发明可用于检测电力系统中电晕放电情况。

技术领域

本发明属于检测电力系统中电晕放电技术，具体涉及一种基于聚3-己基噻吩的电晕放电检测材料及其制备方法。

背景技术

电晕放电是带电体表面在气体或液体介质中发生局部放电的现象，常发生在高压导线的周围和带电体的尖端附近，在电力系统中容易发生电晕放电的设施和场所包括高压输电线路的绝缘子，变电所母线两端的耐张线夹，线路的耐张杆塔和直线杆塔，同时能产生臭氧、氧化氮等物质。随着输电电压等级的不断提高，电晕放电带来的危害日益严重，一方面给电力系统带来大量的能量损耗，据不完全统计，全国每年因电晕放电造成的电能损耗达到20.5亿kW·h，另一方面因臭氧对金属及有机物有强烈的氧化作用，对输电线路造成腐蚀，逐步破坏设备绝缘性能，降低绝缘设备使用寿命。因此，研究电晕放电实时监测技术对于消除或削弱高压输电线路电晕放电具有重要意义。目前常用的电晕放电检测技术包括红外热成像技术和紫外光谱探测技术，但是红外热成像技术主要探测发热现象，此时设备已经由于电晕放电而损耗严重，紫外光谱探测技术需在太阳辐射微弱情况下进行电晕探测，效率低且费用昂贵。

发明内容

本发明的目的在于提供一种利用基于聚3-己基噻吩的电晕放电检测材料及其制备方法。

为达到上述目的，本发明采用如下的技术方案来实现的：

一种基于聚3-己基噻吩的电晕放电检测材料的制备方法，包括以下步骤：

1)将聚3-己基噻吩均匀分散于有机溶剂中，得到聚3-己基噻吩溶液；

2)将步骤1)中得到的聚3-己基噻吩溶液在检测材料上均匀旋涂成膜，得到聚3-己基噻吩检测结构；

3)将步骤2)中制得的聚3-己基噻吩检测结构放置在电晕放电的环境中，利用电晕放电臭氧环境，使聚3-己基噻吩检测结构发生氧化反应，得到正一价聚3-己基噻吩检测结构；

4)测试步骤3)中得到正一价聚3-己基噻吩检测结构在不同电压和不同时间放电处理下的UV-Vis光谱，得到峰值下降和峰位蓝移，以此作为判断电晕放电强度的依据。

本发明进一步的改进在于，步骤1)中，聚3-己基噻吩浓度在1mg/mL至20mg/mL之间。

本发明进一步的改进在于，步骤1)中，有机溶剂为氯仿、氯苯、四氢呋喃、邻二氯苯、对二氯苯中一种或两种混合物。

本发明进一步的改进在于，步骤2)中，利用旋涂仪将步骤1)中得到的聚3-己基噻吩溶液在检测材料上均匀旋涂成膜。

本发明进一步的改进在于，步骤2)中，聚3-己基噻吩的膜厚为10nm至1μm。

本发明进一步的改进在于，步骤3)中，利用紫外可见近红外分光光度计进行测试。

本发明进一步的改进在于，紫外可见近红外分光光度计的测试模式为透射模式，且为非原位测试。

一种基于聚3-己基噻吩的电晕放电检测材料，采用所述的制备方法制备得到。

相对于现有技术，本发明至少具有如下有益的技术效果：