[发明专利]卷对卷超导带材转弯直径测试装置和方法

权利要求书

1.一种卷对卷超导带材转弯直径测试装置，其特征在于，包括：带材转弯直径测试部分和临界电流测量部分；

待测超导带材卷绕在所述带材转弯直径测试部分上，所述带材转弯直径测试部分具多个预设的转弯直径；

所述临界电流测量部分包括：传感器，采集待测超导带材的电压信息或磁场强度信息；

通过向待测超导带材提供时变电流，以及通过所述临界电流测量部分采集对应转弯直径下的电压信息或磁场强度信息；

根据得到的电压信息或磁场强度信息，得到待测超导带材在对应转弯直径下的临界电流值；

在所述临界电流值的退化不超过预设值的情况下，最小的转弯直径即为待测超导带材的临界转弯直径。

2.根据权利要求1所述的卷对卷超导带材转弯直径测试装置，其特征在于，所述带材转弯直径测试部分包括：转向轮和测试轮；

所述转向轮包括多个第一带材卡槽，所述测试轮包括多个转弯直径不同的第二带材卡槽，待测超导带材往返卷绕在所述测试轮的第一带材卡槽和所述转向轮的第二带材卡槽之间。

3.根据权利要求1所述的卷对卷超导带材转弯直径测试装置，其特征在于，所述待测超导带材的两端分别连接导电端子，用于获取所述时变电流。

4.根据权利要求1所述的卷对卷超导带材转弯直径测试装置，其特征在于，所述时变电流包括上升快下降慢的尖峰波形。

5.根据权利要求1所述的卷对卷超导带材转弯直径测试装置，其特征在于，所述脉冲波形的脉宽小于50ms。

6.根据权利要求1所述的卷对卷超导带材转弯直径测试装置，其特征在于，所述时变电流的峰值大于待测超导带材的临界电流值。

7.根据权利要求1所述的卷对卷超导带材转弯直径测试装置，其特征在于，所述传感器包括：感应线圈、霍尔传感器、巨磁阻效应传感器、SQUID传感器或磁通门磁强计。

8.根据权利要求2所述的卷对卷超导带材转弯直径测试装置，其特征在于，所述临界电流测量部分包括：传感器、传感器安装部和滑轨；

所述传感器安装于所述传感器安装部，所述传感器安装部滑动连接在所述滑轨上，能够在不同转弯直径的所述第二带材卡槽外侧之间移动。

9.一种卷对卷超导带材转弯直径测试方法，其特征在于，采用权利要求1所述的卷对卷超导带材转弯直径测试装置，执行步骤：

步骤1：将待测超导带材卷绕在带材转弯直径测试部分；

步骤2：将待测超导带材浸没在液氮中，向待测超导带材提供时变电流，通过所述临界电流测量部分采集对应时刻下的电压信息或磁场强度信息；

步骤3：根据电压信息或磁场强度信息得到待测超导带材在对应转弯直径下的临界电流值；

步骤4：根据得到的不同转弯直径所对应的临界电流值，得到待测超导带材的临界转弯直径，其中，在对应转弯直径的临界电流值低于原始值的预设百分比的情况下，判定所述转弯直径小于待测超导带材的临界转弯直径。

10.根据权利要求9所述的卷对卷超导带材转弯直径测试方法，其特征在于，通过多个所述临界电流测量部分同时采集不同转弯直径下的电压信息或磁场强度信息；或者，

通过一个所述临界电流测量部分按转弯直径由小到大依次采集不同转弯直径下的电压信息或磁场强度信息。