[发明专利]Socket连接器引脚连通性的测试装置、系统及测试方法

权利要求书

1.一种Socket连接器引脚连通性的测试装置，其特征在于，包括：测试板和假CPU芯片，其中，

所述测试板上设置有电源电路、显示电路、焊盘阵列和回路选择电路，所述电源电路用于提供测试电源；

所述显示电路连接于所述测试电源的正极与所述焊盘阵列之间，用于将所述测试电源引入所述焊盘阵列并显示测试结果；

所述焊盘阵列的焊盘与待测试的Socket连接器引脚数量相同且排布方式相同，用于插接所述待测试的Socket连接器的全部引脚；

所述回路选择电路用于对经过所述焊盘阵列的电流回路进行切换选择，以使测试覆盖到插接于所述焊盘阵列的Socket连接器的全部引脚；

所述假CPU芯片，用于模拟实际CPU芯片的引脚结构，插接于所述待测试的Socket连接器，以形成电流回路。

2.根据权利要求1所述的Socket连接器引脚连通性的测试装置，其特征在于，所述电源电路包括：

电源连接器，用于连接外部供电电源；

至少一个电池，用于提供内部供电电源；

电源开关，与所述电源连接器和所述电池的正极连接，用于控制电源的输出。

3.根据权利要求1所述的Socket连接器引脚连通性的测试装置，其特征在于，所述显示电路包括：与所述焊盘阵列的焊盘数量相等的LED二极管，每个LED二极管对应连接一个焊盘，且每个LED二极管串联一个限流电阻。

4.根据权利要求3所述的Socket连接器引脚连通性的测试装置，其特征在于，所述LED二极管按照待测试的Socket连接器的引脚排布方式排布在所述测试板上。

5.根据权利要求4所述的Socket连接器引脚连通性的测试装置，其特征在于，所述测试板上位于每个LED二极管下方位置分别设置一个测试点，以便手动测试。

6.根据权利要求1所述的Socket连接器引脚连通性的测试装置，其特征在于，所述焊盘阵列分为多个区域，每个区域独立供电。

7.根据权利要求1所述的Socket连接器引脚连通性的测试装置，其特征在于，所述回路选择电路包括两组跳线插针，与所述焊盘阵列中的两组信号电源回路焊盘一一对应，所述信号电源回路焊盘通过所述跳线插针与测试电源负极连接。

8.根据权利要求1所述的Socket连接器引脚连通性的测试装置，其特征在于，所述假CPU芯片包括PCB板，所述PCB板采用双层板，所述PCB板底面的焊盘排布与待测试的Socket连接器对应的实际CPU相同，所述PCB板顶面将所有的焊盘连接在一起。

9.根据权利要求8所述的Socket连接器引脚连通性的测试装置，其特征在于，所述假CPU芯片还包括封装金属盖，所述封装金属盖与实际CPU的封装金属盖相同。

10.一种Socket连接器引脚连通性的测试系统，其特征在于，包括如权利要求1-9任一项所述的Socket连接器引脚连通性的测试装置，还包括控制板和上位机，所述控制板将所述测试装置检测到的未连通信号焊盘位置上传到所述上位机。

11.一种Socket连接器引脚连通性的测试方法，其特征在于，基于如权利要求1所述的Socket连接器引脚连通性的测试装置实现，包括：

接通电源，将所述回路选择电路与所述焊盘阵列的两组信号电源回路焊盘形成的电流回路全部连通，测试是否有未连通的Socket连接器引脚；

断开所述回路选择电路与所述焊盘阵列的其中一组信号电源回路焊盘形成的电流回路，只连通所述回路选择电路与所述焊盘阵列的另外一组信号电源回路焊盘形成的电流回路，测试断开的一组信号电源回路焊盘所连接的Socket连接器引脚是否存在未连通引脚；

将所述回路选择电路的连通方式进行调换，再次测试断开的一组信号电源回路焊盘所连接的Socket连接器引脚是否存在未连通引脚。