[发明专利]一种信息技术芯片测试装置

权利要求书

1.一种信息技术芯片测试装置，包括壳体和放置件，以及通过第三伸缩件活动设置在壳体内部的测试部件，用于对放置件上放置的芯片进行测试，其特征在于，还包括抽真空机构，用于对芯片进行吸附固定；

所述抽真空机构包括开设在放置件内部的空腔，空腔的内壁开设有穿孔，还包括抽真空部件，用于对空腔的内部进行抽真空；

空腔的内部设置有活动座，活动座靠近测试部件的一侧设置有测温部件；

还包括位于放置件底部的支撑部件，支撑部件和放置件之间设置有与活动座相互磁吸的第一活动部件，第一活动部件的一侧设置有第二活动部件；

还包括随测试部件移动而移动的拨动机构，所述拨动机构包括中空的延伸部件，延伸部件靠近支撑部件的一端活动设置有连接部件，用于与第二活动部件磁吸并拨动第二活动部件水平移动。

2.根据权利要求1所述的一种信息技术芯片测试装置，其特征在于，所述空腔的底部内壁设置有滚动件，用于在活动座移动时减小活动座与空腔内壁之间的摩擦力。

3.根据权利要求2所述的一种信息技术芯片测试装置，其特征在于，所述连接部件的一侧设置有安装件，安装件延伸至延伸部件内部的一端与延伸部件弹性连接。

4.根据权利要求3所述的一种信息技术芯片测试装置，其特征在于，所述第三伸缩件活塞杆的一端连接有升降部件，升降部件靠近放置件的一侧活动设置有转动件，测试部件位于转动件靠近放置件的一侧；

还包括第二驱动部件，用于驱动转动件转动。

5.根据权利要求4所述的一种信息技术芯片测试装置，其特征在于，还包括清洁机构，用于在测试前后对放置件的表面进行清洁；

所述清洁机构包括清洁部件，还包括第一驱动部件，用于驱动清洁部件转动。

6.根据权利要求1所述的一种信息技术芯片测试装置，其特征在于，还包括上料机构，用于对芯片进行上料；

所述上料机构包括储料壳体，储料壳体的内部活动设置有升降框，还包括第二伸缩件，用于推动装有待测试芯片的升降框向上移动。

7.根据权利要求6所述的一种信息技术芯片测试装置，其特征在于，还包括推动机构，用于将随升降框移动至放置件顶部的芯片推动至穿孔的开口处；

所述推动机构包括推动部件，以及用于推动推动部件的第一伸缩件。

8.根据权利要求7所述的一种信息技术芯片测试装置，其特征在于，还包括下料机构，用于对测试完成后的芯片进行下料；

所述下料机构包括活动设置在放置件顶部的下料部件，下料部件靠近穿孔开口的一侧开设有凹槽。

9.根据权利要求8所述的一种信息技术芯片测试装置，其特征在于，所述凹槽的内壁通过弹性件设置有按压片，按压片和凹槽内壁之间设置有压力传感器；

还包括提示灯。

10.根据权利要求2所述的一种信息技术芯片测试装置，其特征在于，活动座底部的四周为弧形结构，用于避免活动座移动时与滚动件卡住。