[发明专利]一种ADC数据分析系统在审
申请号: | 202111504720.8 | 申请日: | 2021-12-10 |
公开(公告)号: | CN114095024A | 公开(公告)日: | 2022-02-25 |
发明(设计)人: | 何贤赚;王海宁;周杨凡;刘玉林;黄苏芳 | 申请(专利权)人: | 杭州万高科技股份有限公司 |
主分类号: | H03M1/10 | 分类号: | H03M1/10 |
代理公司: | 江苏圣典律师事务所 32237 | 代理人: | 胡建华 |
地址: | 310053 浙江省杭州市滨江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 adc 数据 分析 系统 | ||
ADC在工作的过程中会产生大量的数据,对ADC进行性能优化、参数校正、问题排查往往需要获取大量的数据并进行计算分析。本发明公开了一种ADC数据分析系统。一种ADC数据分析系统,包括:数据采集接口模块、数据格式转换模块、数据缓存模块、信号同步模块、信号发生模块、同步时钟信号发生模块和数据处理模块。对数据和测试信号做时间上的关联,用于分析如信号响应时间、信号采样时延等指标;支持同步时钟输出;可以获取、存储全部数据;可以实时展示ADC的原始数据,方便发现异常;提高了ADC应用电路的优化效率和质量;支持电平转换和多种数据接口类型;原始ADC数据可以存储和加载,方便后期处理和分析。
技术领域
本发明涉及一种数据分析系统,特别是一种ADC数据分析系统。
背景技术
随着设计技术的发展,模拟数字转换器(Analog-to-digitalconverter,ADC)的功能越来越多,采样速率越来越快,同时产生的数据量也是大幅的增长。如何把海量的数据和测试信号关联起来,分析并发现ADC电路设计问题,对提高电路设计效率、质量具有重大的意义。
ADC在工作的过程中会产生大量的数据,对ADC进行性能优化、参数校正、问题排查往往需要获取大量的数据并进行计算分析。另外测试信号和数据往往是分开处理的,如何把大量的数据和测试信号做时间上的关联是个需要解决的问题。
通过关联处理电路分析ADC数据的缺点:
a)无法分析全部ADC数据,对于偶现的异常数据不能很好的获取到。
b)无法对数据和测试信号做时间上的关联,无法分析如信号响应时间、信号采样时延等指标。
c)ADC数据难以分析、展示。
发明内容
发明目的:本发明所要解决的技术问题是针对现有技术的不足,提供一种ADC数据分析系统。
为了解决上述技术问题,本发明公开了一种ADC数据分析系统。
一种ADC数据分析系统,包括:数据采集接口模块、数据格式转换模块、数据缓存模块、信号同步模块、信号发生模块、同步时钟信号发生模块和数据处理模块;
通过数据采集接口模块获取待测模拟数字转换器ADC数据;对采集到的待测模拟数字转换器ADC数据进行格式转换,把待测模拟数字转换器ADC和关联电路间的通讯协议转换为原始模拟数字转换器ADC数据内容;
信号同步模块输出同步脉冲,通过同步脉冲同步数据采集接口的时间戳和信号发生模块的测试信号,采集到的待测模拟数字转换器ADC数据加入时间戳后和测试信号的时间精确关联;
信号同步模块通过信号阈值触发,对外接测试信号时的信号同步脉冲进行触发;信号同步模块直接产生的同步脉冲,用于同步信号发生模块生成的测试信号;原始模拟数字转换器ADC数据内容加上时间戳后暂存在数据缓存模块;
信号发生模块输出模拟数字转换器ADC测试信号,并通过同步脉冲实时同步信号发生的起始时间;
同步时钟发生模块输出多组同步时钟;
数据处理模块对原始模拟数字转换器ADC数据进行实时分析,以波形及图表方式展示;该数据处理模块对本地存储中的模拟数字转换器ADC原始数据及同步时钟数据进行分析与展示。
本发明所述系统中待测ADC数据采集步骤如下:
步骤1,同步时钟发生模块产生同步时钟信号;
步骤2,上电初始化待测ADC关联电路,数据采集接口模块准备读取待测ADC数据;
步骤3,根据待测ADC应用电路的数据接口电压设置数据采集接口的电平转换参数;
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