[发明专利]一种带清洁结构的温度测定仪在审
申请号: | 202111504902.5 | 申请日: | 2021-12-10 |
公开(公告)号: | CN114264389A | 公开(公告)日: | 2022-04-01 |
发明(设计)人: | 王理;尹若静;刘倩倩;王玲玲;尹国庆 | 申请(专利权)人: | 蚌埠正浩电子科技有限公司 |
主分类号: | G01K13/00 | 分类号: | G01K13/00;G01K1/14;B08B1/00 |
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地址: | 233000 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 清洁 结构 温度 测定 | ||
本发明公开了一种带清洁结构的温度测定仪,属于温度测定仪技术领域,包括温度测定仪主体,所述温度测定仪主体由检测显示部与探测部组成,所述探测部呈锥形,所述检测显示部上套接有清理套筒,所述清理套筒的内部分为检测清理腔与探测清理腔,所述检测清理腔与探测清理腔分别与检测显示部与探测部的形状相对应。本发明,从而能够对温度测定仪主体全方位的进行清理,能够直接将吸水清理刷从清理导槽内整条抽出,以方便使用者对吸水清理刷清理重复使用或者更换,其方便的拆装设计,能够提高清理套筒内安装的吸水清理刷能够始终对温度测定仪主体起到较好的清理效果。
技术领域
本发明涉及温度测定仪技术领域,更具体地说,涉及一种带清洁结构的温度测定仪。
背景技术
温度测试仪是测温的高精度仪器,利用固体、液体、气体受温度的影响而热胀冷缩的现象;在定容条件下,气体(或蒸气)的压强因不同温度而变化;热电效应的作用;电阻随温度的变化而变化;热辐射的影响等发生单调的、显著的变化,用来标志温度而制成温度计。
现有的温度测定仪在使用时,由于其使用环境在使用后其表面往往会附着大量的污渍,待下次使用温度测定仪时,往往会导致温度感应慢或温度测定误差较大的问题,影响温度测定仪的使用,而一般的清理手段费时费力,且清理效果不足,满足不了使用需求,故而提出了一种带清洁结构的温度测定仪来解决此类问题。
发明内容
针对现有技术中存在的问题,本发明的目的在于提供一种带清洁结构的温度测定仪,以解决现有的温度测定仪在使用时,由于其使用环境在使用后其表面往往会附着大量的污渍,待下次使用温度测定仪时,往往会导致温度感应慢或温度测定误差较大的问题,影响温度测定仪使用的问题。
为解决上述问题,本发明采用如下的技术方案。
一种带清洁结构的温度测定仪,包括温度测定仪主体,所述温度测定仪主体由检测显示部与探测部组成,所述探测部呈锥形,所述检测显示部上套接有清理套筒,所述清理套筒的内部分为检测清理腔与探测清理腔,所述检测清理腔与探测清理腔分别与检测显示部与探测部的形状相对应,所述检测清理腔与探测清理腔之间的内部设置有清理导槽,所述清理导槽呈螺旋状,所述清理导槽的内部安装有吸水清理刷。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述清理套筒上开设有添液口,所述添液口与清理导槽的内部相连通。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述吸水清理刷包含有橡胶支撑条,所述橡胶支撑条的外部固定连接有清理套,所述橡胶支撑条包含有安装条与贴合条,所述贴合条与安装条之间一体成型,所述安装条安装于清理导槽的内侧,所述贴合条的内部开设有空腔。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述温度测定仪主体的顶部一体成型有凸块,所述清理套筒的顶部盖接有盖板,所述盖板的底部开设有与凸块相匹配的卡槽,所述凸块的顶部与卡槽的内壁接触。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述清理套筒的底部开设有排污口,所述排污口的内侧螺纹连接有密封塞。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述安装条上开设有均匀分布的凹槽,所述清理套的内侧延伸至凹槽的内部。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述清理导槽的顶部延伸至清理套筒的顶部。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述盖板上套接有密封圈,所述密封圈的底部与清理套筒接触。
相比于现有技术,本发明的优点在于:
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