[发明专利]一种抑制信号源抖动的ADC频谱测试方法在审
申请号: | 202111507829.7 | 申请日: | 2021-12-10 |
公开(公告)号: | CN114184839A | 公开(公告)日: | 2022-03-15 |
发明(设计)人: | 付江铎;杨中;宋佳音;杨浩涵;陈文亚;黄一斌;樊晓华 | 申请(专利权)人: | 江苏集萃智能集成电路设计技术研究所有限公司 |
主分类号: | G01R23/16 | 分类号: | G01R23/16;G01R31/28 |
代理公司: | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 | 代理人: | 郭慧 |
地址: | 214000 江苏省无锡市新吴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 抑制 信号源 抖动 adc 频谱 测试 方法 | ||
1.一种抑制信号源抖动的ADC频谱测试方法,所述方法包括:基波识别、基波替代,所述基波识别指从ADC输出数据中将非理想基波的关键信息识别出来;所述基波替代指重新构建一个新的理想基波成分将原基波替代,重新构建的基波与原基波具有相同的幅度及初始相位;其特征在于,所述基波识别包括:
采集ADC的输出数据;
对所述输出数据进行分段化处理;
计算出每段中所述输出数据的初始相位;
基于所述初始相位,得到所述输出数据的幅度漂移量的估计值;
基于所述估计值,每段中使用线性方程对幅度漂移量进行拟合,估计出带漂移的基波分量;
所述基波替代包括:重新构建一个幅度稳定的基波成分,利用该基波成分对漂移的基波分量进行替换,获取新的数据;
选择合适的窗函数对新的数据进行加窗处理;
对加窗处理后的新的数据进行频谱分析,获得待测ADC动态参数。
2.根据权利要求1所述的抑制信号源抖动的ADC频谱测试方法,其特征在于,所述ADC为16位,对16位的ADC进行频谱测试,所述ADC的微分非线性和信号噪声服从均值为零的正态分布,方差分别为0.01LSB和0.5LSB。
3.根据权利要求2所述的抑制信号源抖动的ADC频谱测试方法,其特征在于,所述输出数据的幅度漂移量最大值设为标准幅度的±1%,频率漂移大小为100ppm/s。
4.根据权利要求3所述的抑制信号源抖动的ADC频谱测试方法,其特征在于,所述输出数据总共采样32768个点,将所述输出数据分为512段,每段中包含64个采样点。
5.根据权利要求1或4所述的抑制信号源抖动的ADC频谱测试方法,其特征在于,分段化处理前,对所述输出数据进行归一化处理,选取所述输出数据中幅值抖动为归一化的1%大小的范围内,频率漂移为100ppm/s的信号源。
6.根据权利要求5所述的抑制信号源抖动的ADC频谱测试方法,其特征在于,所述幅度漂移量的幅值为A[n],使用线性方程对幅度漂移量进行拟合,所述线性方程的表达式为:Ak[n]=Ak+ASk·n+An;式中,Ak和ASk分别表示幅度漂移拟合直线的截距和斜率,An表示拟合直线与实际幅度漂移量之间的误差。
7.根据权利要求6所述的抑制信号源抖动的ADC频谱测试方法,其特征在于,所述线性方程包括最小二乘法,利用最小二乘法对所述直线方程进行求解,拟合所述信号源的幅度漂移量,所述幅度漂移量即幅度抖动部分。
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