[发明专利]计时器校准方法与电子装置有效

专利信息
申请号: 202111509189.3 申请日: 2021-12-10
公开(公告)号: CN114237020B 公开(公告)日: 2023-09-26
发明(设计)人: 陈阳;胡玥;饶东升;曹快;陶勤勤 申请(专利权)人: 合肥兆芯电子有限公司
主分类号: G04G5/00 分类号: G04G5/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 宋兴;臧建明
地址: 230088 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 计时器 校准 方法 电子 装置
【权利要求书】:

1.一种计时器校准方法,其特征在于,用于电子装置,所述电子装置包括时钟装置与计时器,所述计时器校准方法包括:

根据所述时钟装置的时钟频率与所述计时器的输出执行拟合操作,以产生拟合函数;

获得所述计时器输出的第一数值;

根据所述拟合函数将所述第一数值修正为第二数值,以对所述计时器进行校准;

在预设取样范围内,检测基于所述拟合函数所输出的偏离值,其中所述偏离值与所述拟合曲线之间的逻辑距离大于预设值;

根据所述偏离值所对应的取样点将所述预设取样范围划分为所述第一取样范围与所述第二取样范围;以及

建立所述拟合函数中对应于第一取样范围的第一拟合函数及对应于第二取样范围的第二拟合函数。

2.根据权利要求1所述的计时器校准方法,其中根据所述时钟装置的所述时钟频率与所述计时器的所述输出执行所述拟合操作,以产生所述拟合函数的步骤包括:

在所述预设取样范围内,基于所述计时器的所述输出获得多个第一测量值;

在所述预设取样范围内,基于所述时钟装置的所述时钟频率获得多个第二测量值;以及

根据所述多个第一测量值与所述多个第二测量值执行所述拟合操作,以产生所述拟合函数,

其中所述拟合函数用以将所述多个第一测量值转换为所述多个第二测量值。

3.根据权利要求2所述的计时器校准方法,其中所述预设取样范围包括所述第一取样范围与所述第二取样范围,且所述第一拟合函数不同于所述第二拟合函数。

4.根据权利要求3所述的计时器校准方法,其中所述拟合函数反映一拟合曲线。

5.根据权利要求1所述的计时器校准方法,其中所述时钟装置包括处理器,且所述时钟装置的所述时钟频率包括所述处理器的时钟频率。

6.根据权利要求1所述的计时器校准方法,还包括:

检测环境参数的变化;以及

根据所述环境参数的变化更新所述拟合函数。

7.一种电子装置,其特征在于,包括:

时钟装置;

计时器;以及

校准电路,连接至所述时钟装置与所述计时器,

其中所述校准电路用以:

根据所述时钟装置的时钟频率与所述计时器的输出执行拟合操作,以产生拟合函数;

获得所述计时器输出的第一数值;

根据所述拟合函数将所述第一数值修正为第二数值,以对所述计时器进行校准;

在预设取样范围内,检测基于所述拟合函数所输出的偏离值,其中所述偏离值与所述拟合曲线之间的逻辑距离大于预设值;

根据所述偏离值所对应的取样点将所述预设取样范围划分为所述第一取样范围与所述第二取样范围;以及

建立所述拟合函数中对应于第一取样范围的第一拟合函数及对应于第二取样范围的第二拟合函数。

8.根据权利要求7所述的电子装置,其中根据所述时钟装置的所述时钟频率与所述计时器的所述输出执行所述拟合操作,以产生所述拟合函数的操作包括:

在所述预设取样范围内,基于所述计时器的所述输出获得多个第一测量值;

在所述预设取样范围内,基于所述时钟装置的所述时钟频率获得多个第二测量值;以及

根据所述多个第一测量值与所述多个第二测量值执行所述拟合操作,以产生所述拟合函数,

其中所述拟合函数用以将所述多个第一测量值转换为所述多个第二测量值。

9.根据权利要求8所述的电子装置,其中所述预设取样范围包括所述第一取样范围与所述第二取样范围,且所述第一拟合函数不同于所述第二拟合函数。

10.根据权利要求9所述的电子装置,其中所述拟合函数反映一拟合曲线。

11.根据权利要求7所述的电子装置,其中所述时钟装置包括处理器,且所述时钟装置的所述时钟频率包括所述处理器的时钟频率。

12.根据权利要求7所述的电子装置,其中所述校准电路还用以:

检测环境参数的变化;以及

根据所述环境参数的变化更新所述拟合函数。

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