[发明专利]双面检测方法及双面检测设备在审

专利信息
申请号: 202111517028.9 申请日: 2021-12-13
公开(公告)号: CN114121708A 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 陈祖华;袁璐奇 申请(专利权)人: 皓星智能装备(东莞)有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66;H01L21/677;G01N21/89;G01B11/00
代理公司: 厦门市新华专利商标代理有限公司 35203 代理人: 范小艳;徐勋夫
地址: 523000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 双面 检测 方法 设备
【说明书】:

发明公开一种双面检测方法及双面检测设备,第一步:取放料机构将一个待检测的产品放至料盘中转位后,双工位移栽机构中的取放装置A移动至料盘中转位抓取一个待检测的产品;第二步:取放装置A将一个待检测的产品放至双面检测工位进行检测;第三步:取放装置B移动至料盘中转位抓取该待检测的产品;第四步:取放装置A将检测完成后的产品抓取,取放装置B将待检测的产品放至双面检测工位检测;第五步:取放装置B在料盘中转位抓取该待检测的产品;取放装置A将检测完成后的产品放至料盘中转位,取放料机构将检测完成后的产品下料;重复第四步和第五步。采用双工位移栽机构,缩短了两次检测上料的时间间隔,配合双面检测工位提高产品的检测效率。

技术领域

本发明涉及设备领域技术,尤其是指一种双面检测方法及双面检测设备,其主要应用于双面晶圆的检测。

背景技术

双面晶圆的生产过程中,良品率是很重要的条件,对于双面晶圆的品质要求极为严格,在大批量生产的时候,往往需要对双面晶圆进行外观检测,比如:尺寸、破损、气孔、裂痕不良等。

目前双面晶圆通常是通过人工来手动进行外观检测,人工费时费力,因此,多数采用抽检的方法,从而在大批量生产时,不能确保双面晶圆的质量;后来出现有晶圆检测设备,但其仅可单面检测,因此对晶圆的双面需要进行分别进行正、反两次检测,导致检测工作效率难以进一步提升。而且,两次检测也需要多次定位,影响检测精度及检测质量。

因此,有必要设计一种新的晶圆检测设备来解决上述问题。

发明内容

有鉴于此,本发明针对现有技术存在之缺失,其主要目的是提供一种双面检测方法及双面检测设备,其双面晶圆在检测中采用双工位移栽机构进行检测产品的取和放,缩短了两次检测上料的时间间隔,提高了产品的检测效率,以及配合双面检测工位的检测,一次性对正反两面进行检测,进一步提高产品的检测效率。

为实现上述目的,本发明采用如下之技术方案:

一种双面检测方法,包括如下步骤:

第一步:取放料机构将一个待检测的产品放至料盘中转位后,双工位移栽机构中的取放装置A移动至料盘中转位抓取一个待检测的产品,此时,双工位移栽机构中的取放装置B呈空闲状态,其中,取放装置A和取放装置B依次布置;

第二步:取放装置A将一个待检测的产品放至双面检测工位进行检测,此时,取放装置A和取放装置B均呈空闲状态;

第三步:取放装置B移动至料盘中转位抓取下一个待检测的产品前,取放料机构将该待检测的产品放至料盘中转位;然后,取放装置B移动至料盘中转位抓取该待检测的产品后,取放装置A、取放装置B均移动至等待区域;

第四步:取放装置A将检测完成后的产品抓取,取放装置B将待检测的产品放至双面检测工位进行检测,此时,取放装置B呈空闲状态;

第五步:取放装置B移动至料盘中转位抓取下一个待检测的产品前,取放料机构将该待检测的产品放至料盘中转位后,取放装置B在料盘中转位抓取该待检测的产品;然后,取放装置A将检测完成后的产品放至料盘中转位,取放料机构将检测完成后的产品下料,取放装置A、取放装置B均移动至等待区域,此时,取放装置A呈空闲状态;

第六步:重复第四步和第五步。

作为一种优选方案,在第一步前将装有待检测产品的料仓提篮放至上料位;取放料机构从料仓提篮抓取一个待检测的产品;

在第五步中,取放料机构将检测完成后的产品放入料仓提篮;

在第六步中,直至料仓提篮内的待检测产品全部完成检测后停止,然后取下料仓提篮,完成一批产品的检测。

作为一种优选方案,所述料仓提篮设置有两个,在第六步中,直至第一个料仓提篮内的待检测产品全部完成检测后,取放料机构从第二个料仓提篮抓取待检测的产品,实现连续上料,同时取下产品检测完成的第一个料仓提篮后,重新放上一个含待检测的产品的料仓提篮。

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