[发明专利]航天器热控回路集成电性能测试系统、方法及介质

权利要求书

1.一种航天器热控回路集成电性能测试系统，其特征在于，包括：上位机、测试主机、锂电池及测试转接电缆；

所述测试主机分别连接所述上位机、锂电池和测试转接电缆；

所述锂电池为测试主机供电；

所述测试主机通过测试转接电缆与待测产品构成测试回路。

2.根据权利要求1所述的航天器热控回路集成电性能测试系统，其特征在于，所述测试主机包括：微处理器、电阻测量模块和通讯驱动模块；

所述微处理器用于数据处理和模块控制；所述电阻测量模块用于采集待测产品电阻；所述通讯驱动模块用于测试主机与上位机软件之间的通讯。

3.根据权利要求1所述的航天器热控回路集成电性能测试系统，其特征在于，该系统具备的测试模式包括：加热器/热敏电阻测试模式、热电偶测试模式及接插件测试模式。

4.根据权利要求1所述的航天器热控回路集成电性能测试系统，其特征在于，所述系统设置有一体化航空包装箱，所述测试主机与锂电池集成在一体化航空包装箱内。

5.根据权利要求1所述的航天器热控回路集成电性能测试系统，其特征在于，所述系统提供电阻和绝缘两种性能的测试。

6.根据权利要求5所述的航天器热控回路集成电性能测试系统，其特征在于，所述系统采用开尔文四线检测法四线制电阻测试和#字绝缘测试方式，其中，#字绝缘测试具体包括：

假设测试M个数，则n＝log₂M，n取整数；

当t＝0时，A＝2^t＝1，则奇数组为：1，3，5，7…，偶数组为2，4，6，8…；

当t＝1时，A＝2^t＝2，则奇数组为：1，2，5，6…，偶数组为3，4，7，8…；

当t＝2时，A＝2^t＝4，则奇数组为：1，2，3，4…，偶数组为5，6，7，8…；

当t＝n时，A＝2^t，则奇数组为：1，3，5，7…，偶数组为2，4，6，8…；

其中，t表示顺序，A表示数字组的数量，奇数组偶数组为接插件点号，共计花n秒完成测试。

7.根据权利要求1所述的航天器热控回路集成电性能测试系统，其特征在于，所述系统最大支持120点的回路阻值绝缘测试，并能够进行批量自动测试。

8.根据权利要求1所述的航天器热控回路集成电性能测试系统，其特征在于，所述系统配备金属接插件外壳夹和接地线夹，用于测试产品与金属外壳和对地的绝缘值。

9.一种航天器热控回路集成电性能测试方法，其特征在于，基于权利要求1-8中任意一项所述的航天器热控回路集成电性能测试系统，包括：

步骤S1：将待测产品回路通过所述测试转接电缆与所述测试主机连接；

步骤S2：通过所述上位机输入测试内容；

步骤S3：开始对待测产品进行电性能测试，所述测试主机采集待测产品的阻值绝缘测试结果；

步骤S4：所述上位机对采集的阻值绝缘测试结果进行自动判读并输出测试结果报告。

10.一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求9所述的方法的步骤。