[发明专利]液下气泡多角度光学特征分析装置在审
申请号: | 202111519480.9 | 申请日: | 2021-12-13 |
公开(公告)号: | CN114216905A | 公开(公告)日: | 2022-03-22 |
发明(设计)人: | 陈阳;王新伟;王敏敏;孙亮;周燕 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84;G01N21/01 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王文思 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 气泡 角度 光学 特征 分析 装置 | ||
1.一种液下目标多角度光学特征分析装置,其特征在于,包括:
支撑框架(1);
定位装置,适用于对分析目标进行定位,所述分析目标定位于所述定位装置的中心轴线上;
旋转机构,设置成环绕所述中心轴线可转动地安装在所述支撑框架(1)上;
照明装置,安装在所述旋转机构上,所述照明装置被构造成在所述旋转机构的驱动下以不同的径向角度对所述分析目标进行照明;以及
摄像机(17),响应于所述照明装置以不同的径向角度对所述分析目标进行照明摄取所述分析目标的图像。
2.根据权利要求1所述的液下目标多角度光学特征分析装置,其特征在于,还包括:
液体槽(16),安装在所述支撑框架内,所述旋转机构设置在所述液体槽(16)内;以及
排气孔(15),安装在所述旋转机构处,从所述排气孔排出的气体导致所述液体槽(16)内的液体产生气泡,所述气泡用作所述分析目标。
3.根据权利要求2所述的液下目标多角度光学特征分析装置,其特征在于,还包括:
气源(18),安装在所述支撑框架(1)上;以及
输气管,所述输气管的一端与所述气源(18)连通,所述输气管的另一端设有所述排气孔(15)。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的液下目标多角度光学特征分析装置,其特征在于,所述旋转机构包括:
旋转云台(6),可转动地安装在所述支撑框架(1)上;
引导杆(7),所述引导杆的一端安装在所述旋转云台(6)上并平行于所述中心轴线延伸;以及
支撑台(14),安装在所述引导杆(7)的另一端,支撑台(14)底部与摄像机(17)底部高度平齐;
所述照明装置包括:
光源(9),安装在所述引导杆(7)上;以及
光学模组,设置成引导来自于所述光源的光束在径向方向上照射到所述分析目标。
5.根据权利要求4所述的液下目标多角度光学特征分析装置,其特征在于,所述支撑台(14)的一端可转动地通过螺纹旋钮安装在所述引导杆(7)的所述另一端,使得所述支撑台(14)可在螺纹旋钮的驱动下沿引导杆(7)上下移动,并使得所述支撑台(14)在所述引导杆(7)的驱动下环绕所述中心轴线转动。
6.根据权利要求4所述的液下目标多角度光学特征分析装置,其特征在于,所述光学模组包括:
导光管(10),安装在所述光源(9)上,以在平行于所述中心轴线的方向上引导所述光源发出的光束;以及
45°反射镜(11),安装在所述支撑台(14)上,适用于将从所述导光管出射的光束反射成在径向方向上朝向所述分析目标照射。
7.根据权利要求6所述的液下目标多角度光学特征分析装置,其特征在于,所述光学模组还包括调节轮(8),所述光源(9)通过所述调节轮(8)安装在所述引导杆(7)上,所述调节轮(8)设置成调节所述光源(9)的位置,使得从所述光源发出的光束经所述导光管之后竖直入射到所述45°反射镜的反射中心。
8.根据权利要求4所述的液下目标多角度光学特征分析装置,其特征在于,所述定位装置还包括:
第一支撑梁(2),通过第一导轨机构(3)安装在所述支撑框架(1)上,使得所述第一支撑梁(2)在垂直于所述中心轴线的第一水平方向上往复移动;以及
第二支撑梁(4),通过第二导轨机构(5)安装在所述第一支撑梁(2)上,使得所述第二支撑梁(4)在垂直于所述第一水平方向的第二水平方向上往复移动;
其中,所述旋转云台安装在所述第二支撑梁(4)上,通过驱动所述旋转云台(6)在所述第一水平方向和/或第二水平方向上的移动,使得所述旋转云台(6)的旋转轴线与所述中心轴线重合。
9.根据权利要求2所述的液下目标多角度光学特征分析装置,其特征在于,所述液体槽(16)为透明槽,所述透明槽的除成像孔之外的部位的内侧和/或外侧设有遮光膜,所述成像孔与位于所述液体槽(16)之外的摄像机(17)镜头对齐。
10.根据权利要求1~3中的任一项所述的液下目标多角度光学特征分析装置,其特征在于,所述旋转机构设置成在360度的范围内往复转动,以允许所述照明装置以任意的径向角度间隔对所述分析目标进行照明。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所,未经中国科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111519480.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:诈骗站点处理方法、装置及存储介质
- 下一篇:直流牵引供电装置及系统