[发明专利]一种极片双面清洗定位方法及装置有效

专利信息
申请号: 202111519878.2 申请日: 2021-12-13
公开(公告)号: CN114273341B 公开(公告)日: 2022-09-30
发明(设计)人: 谢盛珍;吴耀杰;姚毅;杨艺 申请(专利权)人: 深圳市凌云视迅科技有限责任公司;凌云光技术股份有限公司
主分类号: B08B7/00 分类号: B08B7/00;B08B13/00
代理公司: 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 代理人: 逯长明;许伟群
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 双面 清洗 定位 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种极片双面清洗定位方法,其特征在于,包括:

获取极片第一面清洗区的纵向偏移量和极片第二面清洗区的纵向基准线;

通过极片第一面清洗区的纵向偏移量和极片第二面清洗区的纵向基准线,确定极片第二面清洗区高度的起始位置;

根据所述极片第二面清洗区高度的起始位置和预设标准清洗高度,确定第二面清洗区的起始位置和高度;

获取极片第一面的横向距离和极片第二面的横向距离;其中,所述第一面的横向距离是以第一面的第一个金属箔区的左边线为起始线,以第一面的每个金属箔区与涂布区的分界线为终止线之间的距离;所述第二面的横向距离是以第二面的第一个金属箔区的左边线为起始线,以第二面的每个金属箔区与涂布区的分界线为终止线之间的距离;

通过极片第一面的横向距离、极片第二面的横向距离和预设标准清洗宽度,确定第二面清洗区的位置和宽度。

2.根据权利要求1所述的一种极片双面清洗定位方法,其特征在于,所述极片第一面清洗区的纵向偏移量的确定,包括:

获取极片第一面的清洗区的纵向基准线,所述纵向基准线是由第一相机拍摄的第一张图像确定的,所述第一张图像上具有清洗区;

获取极片第一面的清洗区的纵向线,所述纵向线是由第一相机拍摄的第N(N>1)张图像确定的;

确定所述极片第一面清洗区的纵向偏移量为所述纵向偏移量为所述纵向线和所述纵向基准线之差。

3.根据权利要求1所述的一种极片双面清洗定位方法,其特征在于,所述第二面清洗区的宽度按照下式计算获得:

TD=S1+W-S2

式中,S1为极片第一面的横向距离,S2为极片第二面的横向距离,W为预设标准清洗宽度。

4.根据权利要求1所述的一种极片双面清洗定位方法,其特征在于,所述方法还包括:

获取极片第一面每个清洗区与极片第一金属箔区之间的第一距离;

获取极片第二面每个清洗区与极片第一金属箔区之间的第二距离,所述第一距离与所述第二距离相等。

5.根据权利要求4所述的一种极片双面清洗定位方法,其特征在于,所述第一距离是极片第一面的横向距离与预设标准清洗宽度的和值。

6.根据权利要求4所述的一种极片双面清洗定位方法,其特征在于,所述第二距离是极片第二面的横向距离与第二面清洗区的宽度的和值。

7.一种极片双面清洗定位装置,其特征在于,包括放卷辊轴、收卷辊轴、传送辊轴、第一相机、第二相机、第一激光器、第二激光器、编码器、第一感应器、第二感应器和控制器;

所述控制器与第一相机、第二相机、第一激光器、第二激光器、编码器、第一感应器、第二感应器电连接;

所述控制器,被配置为:

获取极片第一面清洗区的纵向偏移量和极片第二面清洗区的纵向基准线;

通过极片第一面清洗区的纵向偏移量和极片第二面清洗区的纵向基准线,确定极片第二面清洗区高度的起始位置;

根据所述极片第二面清洗区高度的起始位置和预设标准清洗高度,确定第二面清洗区的起始位置和高度;

获取极片第一面的横向距离和极片第二面的横向距离;其中,所述第一面的横向距离是以第一面的第一个金属箔区的左边线为起始线,以第一面的每个金属箔区与涂布区的分界线为终止线之间的距离;所述第二面的横向距离是以第二面的第一个金属箔区的左边线为起始线,以第二面的每个金属箔区与涂布区的分界线为终止线之间的距离;

通过极片第一面的横向距离、极片第二面的横向距离和预设标准清洗宽度,确定第二面清洗区的位置和宽度。

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