[发明专利]一种面板缺陷区域检测方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明涉及人工智能领域，揭露一种面板缺陷区域检测方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：获取面板图像及预先在所述面板图像中设置的查找区域；标记所述面板图像的定位区域，并识别所述定位区域的定位坐标；根据所述定位坐标，在所述查找区域中搜索所述定位区域的相似区域，并对所述相似区域进行仿射变换，得到目标区域；将所述定位区域和所述目标区域进行裁剪，得到所述面板图像的待检测区域；将所述待检测区域与预设的标准区域进行缺陷差分处理，得到差分图像，根据所述差分图像，识别所述待检测区域的缺陷区域。本发明可以实现面板缺陷区域的快速定位，提高面板缺陷区域的检测通用性。

技术领域

本发明涉及人工智能领域，尤其涉及一种面板缺陷区域检测方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

工业面板制造过程中因其工艺波动、机台差异等因素会产生各种各样的面板形态缺陷，通过面板缺陷区域的识别可以很好地了解在面板制造过程中所出现的缺陷原因，从而可以减少后续工业面板出现相同的缺陷问题提高工业面板的制造效率。

目前，面板的缺陷通常是采用人工智能ADC（自动缺陷分类系统）来取代人力进行缺陷识别，但在实际业务场景中，由于面板产品的多样化，导致在获取AI训练样本这个过程中，需要采集大量不同面板产品的训练样本，使得面板缺陷区域的识别通用性较差。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种面板缺陷区域检测方法、装置、电子设备及存储介质，可以实现面板缺陷区域的快速定位，提高面板缺陷区域的检测通用性。

第一方面，本发明提供了一种面板缺陷区域检测方法，包括：

获取面板图像及预先在所述面板图像中设置的查找区域；

标记所述面板图像的定位区域，并识别所述定位区域的定位坐标；

根据所述定位坐标，在所述查找区域中搜索所述定位区域的相似区域，并对所述相似区域进行仿射变换，得到目标区域；

将所述定位区域和所述目标区域进行裁剪，得到所述面板图像的待检测区域；

将所述待检测区域与预设的标准区域进行缺陷差分处理，得到差分图像，根据所述差分图像，识别所述待检测区域的缺陷区域。

在第一方面的一种可能实现方式中，所述标记所述面板图像的定位区域，包括：

接收所述面板图像的缺陷检测请求，根据所述缺陷检测请求，识别所述面板图像的缺陷描述信息；

根据所述缺陷描述信息，标记所述缺陷检测请求在所述面板图像中的定位区域。

在第一方面的一种可能实现方式中，所述根据所述缺陷检测请求，识别所述面板图像的缺陷描述信息，包括：

识别所述缺陷检测请求的缺陷检测类型，并提取所述缺陷检测请求的缺陷检测特征；

将所述缺陷检测类型和所述缺陷检测特征作为所述面板图像的缺陷描述信息。

在第一方面的一种可能实现方式中，所述识别所述定位区域的定位坐标，包括；

获取所述定位区域的顶点位置和中心位置，根据预先在所述定位区域的面板图像中构建的坐标系，计算所述顶点位置和所述中心位置的坐标，分别得到顶点坐标和中心坐标；

根据所述顶点坐标和所述中心坐标，生成所述定位区域的定位坐标。

在第一方面的一种可能实现方式中，所述根据所述定位坐标，在所述查找区域中搜索所述定位区域的相似区域，包括：

根据所述定位坐标中的顶点坐标，确定在所述查找区域中所述定位区域的搜索坐标；

根据所述定位坐标中的中心坐标，定义在所述查找区域中所述定位区域的搜索方向；