[发明专利]一种玻璃热震稳定性的检测方法

说明书

本发明公开了一种玻璃热震稳定性的检测方法，涉及玻璃基板检测技术领域，解决了现有方法不能完全贴合液晶面板生产工艺要求的技术问题；包括玻璃基板最大允许升温速率检测与玻璃基板与空气间最大允许温度检测，具体为：将样品放置于常温下的箱式电阻炉中，然后设置箱式电阻炉的控温程序为初始模式，对玻璃基板进行最大允许升温速率检测；根据检测结果逐级改变控温程序中的升温速率，继续检测；设置箱式电阻炉的恒温温度为初始温度，将样品放置于初始温度下的箱式电阻炉中进行玻璃基板与空气间最大允许温度检测，根据检测结果逐级改变箱式电阻炉的恒温温度，继续检测；本发明能够更加贴合液晶面板热处理的生产工艺，使试验目的更具准确性。

技术领域

本发明涉及玻璃基板检测技术领域，具体是一种玻璃热震稳定性的检测方法。

背景技术

随着液晶显示器件行业的飞速发展，玻璃基板作为液晶显示器件不可或缺的基本部件，需求量与日俱增；玻璃基板材料作为一种高品质组件对玻璃质量有着很严格的要求，其中玻璃基板材料的性能至关重要，直接决定液晶基板制成品的质量；玻璃基板生产过程中，在生产工艺不变的情况下，调整玻璃基板成分会直接影响到玻璃基板的性能，由于性能的变化，很有可能会给下游客户生产工艺带来影响，所以如何有效保证玻璃基板在下游客户的良好应用，对玻璃基板进行相关性能检测，尤为重要；

在玻璃基板下游客户生产工艺中，需要对玻璃基板进行二次退火工艺，这就需要我们对玻璃基板进行热震稳定性测试；在现有方法中，玻璃基板热震稳定性测试往往利用高温处理后，直接将样片进行萃水或者直接冷风处理，这样能够达到试验效果，但是与下游客户工艺不是很贴切，往往会给能够满足下游客户的样片带来错误指导，进而影响公司成本等，带来巨大损失。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种玻璃热震稳定性的检测方法，解决了现有方法不能完全贴合液晶面板生产工艺要求的问题，同时也能够使试验流程更方便。

为实现上述目的，根据本发明的第一方面的实施例提出一种玻璃热震稳定性的检测方法，包括玻璃基板最大允许升温速率检测与玻璃基板与空气间最大允许温度检测，具体步骤如下：

S1、试样制备；

S2、通过金相显微镜观察选取完整无瑕疵的玻璃试样作为样品；

S3、将样品放置于常温下的箱式电阻炉中，然后设置箱式电阻炉的控温程序为初始模式，对玻璃基板进行最大允许升温速率检测；根据检测结果逐级改变控温程序中的升温速率，继续对玻璃基板进行最大允许升温速率检测；

S4、设置箱式电阻炉的恒温温度为初始温度，将样品放置于初始温度下的箱式电阻炉中进行玻璃基板与空气间最大允许温度检测；根据检测结果逐级改变箱式电阻炉的恒温温度，继续进行玻璃基板与空气间最大允许温度检测；

S5、取出样品，通过金相显微镜观察确认，进行结果统计，得到玻璃基板的最大允许升温速率和与空气间的最大允许温度。

进一步地，在初始模式下对玻璃基板进行最大允许升温速率检测的具体步骤为：

S31：将已经制备好的样品，取4块放入样品放置架中的梳齿齿缝内，使它们直立并分离；

S32：将带有样品的样品放置架放置于常温下的箱式电阻炉中；然后设置控温程序为初始模式，所述初始模式为：升温速率为50℃/min，直到温度达到500℃，然后以50℃/min速率降温至常温；

S33：程序运行结束后，取出带有样品的样品放置架，利用金相显微镜观察玻璃样片表面、边缘和棱角是否有破损。

进一步地，根据检测结果逐级改变控温程序中的升温速率的具体过程如下：

若步骤S33中玻璃样片没有破损，则执行步骤S34；若有破损，则记录此时的升温速率为V1，跳至步骤S35；