[发明专利]一种表贴晶振频率跳点的优化方法在审
| 申请号： | 202111533962.X | 申请日： | 2021-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN114487594A | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 睢建平;高远;王建兵;哈斯图亚;刘小光 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R23/02 | 分类号： | G01R23/02 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 张帆 |
| 地址： | 100854 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 表贴晶振 频率 优化 方法 | ||
1.一种表贴晶振频率跳点的优化方法，其特征在于，包括：
S10：将表贴晶振的电极设计为长方形大电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；
S20：将表贴晶振的电极设计为长方形中电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；
S30：将表贴晶振的电极设计为长方形小电极，测试其工作温度范围内的频率跳点。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
S40：将表贴晶振的电极设计为正方形，测试其工作温度范围内的频率跳点；
S50：将表贴晶振的电极设计为圆形，测试其工作温度范围内的频率跳点。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，若以上步骤任意步骤的表贴晶振，其测试出的工作温度范围内的频率跳点小于预设的数值时，则完成优化。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，选取其工作温度范围内的频率跳点最小的表贴晶振，作为完成优化后的表贴晶振。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述S40包括：
S41：将表贴晶振的电极设计为正方形大电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；
S42：将表贴晶振的电极设计为正方形中电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；
S43：将表贴晶振的电极设计为正方形小电极，测试其工作温度范围内的频率跳点。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述S50包括：
S51：将表贴晶振的电极设计为圆形大电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；
S52：将表贴晶振的电极设计为圆形中电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；
S53：将表贴晶振的电极设计为圆形小电极，测试其工作温度范围内的频率跳点。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述长方形大电极的长为所述表贴晶振长的3/4，宽为所述表贴晶振宽的3/4，
所述长方形中电极的长为所述表贴晶振长的1/2，宽为所述表贴晶振宽的1/2，
所述长方形小电极的长为所述表贴晶振长的1/4，宽为所述表贴晶振宽的1/4。
8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述正方形大电极的边长为所述表贴晶振宽的3/4，
所述正方形中电极的边长为所述表贴晶振宽的1/2，
所述正方形小电极的边长为所述表贴晶振宽的1/4。
9.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述圆形大电极的直径为所述表贴晶振宽的3/4，
所述圆形中电极的直径为所述表贴晶振宽的1/2，
所述圆形小电极的直径为所述表贴晶振宽的1/4。
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