[发明专利]激光测距装置、测距方法及可读存储介质

说明书

本发明公开了一种激光测距装置、测距方法及可读存储介质，所述激光测距装置包括：微控制单元MCU；激光发射器，所述激光发射器与所述MCU连接，用于向被测物体发射脉冲信号；数字摄像头接口DCMI，所述DCMI集成于所述MCU中；高速定时器HRTIM，所述HRTIM集成于所述MCU中；模数转换器ADC，所述ADC与所述DCMI连接；激光接收器，所述激光接收器与所述ADC连接，用于接收经所述被测物体反射回来的反射信号。本发明旨在不增加生产成本的基础上提高激光测距的测量精度。

技术领域

本发明涉及激光测距技术领域，尤其涉及一种激光测距装置、测距方法及可读存储介质。

背景技术

在激光测距中，为提高测量精度，通常都需要采用速率较高(100Mhz以上)的ADC(Analog To Digital Converter，模拟数字转换器)进行数据采集，速率较高的ADC对数据采集的要求较高，成本也高。为降低生产成本，大多数生产商都会选择较低速率的ADC进行数据采集，但是采用较低速率的ADC进行数据采集必然影响测量精度，给用户带来较差的用户体验，如何在不增加生产成本的基础上提高激光测距的测量精度已然成为当前激光测距面临的主要问题。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种激光测距装置、测距方法及可读存储介质，旨在不增加生产成本的基础上提高激光测距的测量精度。

为实现上述目的，本发明提供一种激光测距装置，所述激光测距装置包括：

微控制单元MCU；

激光发射器，所述激光发射器与所述MCU连接，用于向被测物体发射脉冲信号；

数字摄像头接口DCMI，所述DCMI集成于所述MCU中；

高速定时器HRTIM，所述HRTIM集成与所述MCU中；

模数转换器ADC，所述ADC与所述DCMI连接；

激光接收器，所述激光接收器与所述ADC连接，用于接收经所述被测物体反射回来的反射信号。

可选地，所述DCMI为8位或者10位的同步并行接口，所述ADC的速率为64Mhz-100Mhz。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种激光测距方法，所述激光测距方法包括：

控制所述激光发射器连续向被测物体发射至少两组脉冲信号，并控制所述激光接收器接收经所述被测物体反射回来的反射信号，其中，每组所述脉冲信号包括至少两个相位不同的脉冲信号；

通过所述DCMI以及所述ADC采集所述反射信号；

将相位相同的所述反射信号进行叠加处理得到多个第一叠加信号；

根据所述第一叠加信号确定所述反射信号的目标脉冲位置；

根据所述目标脉冲位置确定所述激光发射器与所述被测物体的距离。

可选地，所述根据所述第一叠加信号确定所述反射信号的目标脉冲位置的步骤包括：

将多个所述第一叠加信号进行叠加处理得到第二叠加信号；

获取所述第二叠加信号的脉冲强度；

根据所述脉冲强度确定所述第二叠加信号的信号类型，其中，所述信号类型包括强信号以及弱信号；

根据所述信号类型以及所述第一叠加信号确定所述反射信号的目标脉冲位置。

可选地，所述根据所述信号类型以及所述第一叠加信号确定所述反射信号的目标脉冲位置的步骤包括：

若所述信号类型为强信号，将多个所述第一叠加信号进行插值组合，以得到组合信号；