[发明专利]参数影响程度分析方法、装置、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种参数影响程度分析方法，其特征在于，包括：

获取待分析参数和待分析平台信息；

根据预先构建的知识图谱，确定所述待分析参数与所述待分析平台信息形成的目标知识关系链；所述知识图谱为包含参数与平台信息对应关系的知识图谱，所述目标知识关系链指示所述待分析参数与所述待分析平台信息在所述知识图谱中的关系；

根据所述知识图谱，获取所述目标知识关系链中的每个相邻实体间的关联关系；

根据每个所述关联关系，确定所述待分析参数对待分析平台的影响程度。

2.根据权利要求1所述的参数影响程度分析方法，其特征在于，所述根据预先构建的知识图谱，确定所述待分析参数与所述待分析平台信息形成的目标知识关系链，包括：

从所述知识图谱中，提取由所述待分析参数到所述待分析平台信息的至少一条知识关系链；

确定所述至少一条知识关系链中，实体数量最少的知识关系链为所述目标知识关系链。

3.根据权利要求1所述的参数影响程度分析方法，其特征在于，所述根据每个所述关联关系，确定所述待分析参数对待分析平台的影响程度，包括：

确定预设的关系映射表中，与所述关联关系满足预设条件的第一关联关系；

根据所述关系映射表，获取每个所述第一关联关系对应的关联度；

根据各所述关联度，确定所述待分析参数对所述待分析平台的影响程度，所述关联度与所述影响程度成正相关。

4.根据权利要求3所述的参数影响程度分析方法，其特征在于，所述确定预设的关系映射表中，与所述关联关系满足预设条件的第一关联关系，包括：

计算每个所述关联关系与所述预设的关系映射表中的每个第二关联关系的相似度；

确定所述相似度最大的所述第二关联关系为所述第一关联关系。

5.根据权利要求3所述的参数影响程度分析方法，其特征在于，所述根据各所述关联度，确定所述待分析参数对所述待分析平台的影响程度，包括：

计算各所述关联度的乘积，将所述乘积作为所述影响程度。

6.根据权利要求1所述的参数影响程度分析方法，其特征在于，所述待分析平台信息包括待分析平台名称和待分析平台应用领域；所述预先构建的知识图谱包括第一知识图谱和第二知识图谱，所述第一知识图谱为包含领域与参数对应关系的知识图谱，所述第二知识图谱为包含领域与平台名称对应关系的知识图谱；

所述根据预先构建的知识图谱，确定所述待分析参数与所述待分析平台信息形成的目标知识关系链，包括：

根据所述第一知识图谱，确定所述待分析参数与所述待分析平台应用领域形成的第一知识关系链；

根据所述第二知识图谱，确定所述待分析平台名称与所述待分析平台应用领域形成的第二知识关系链；

确定所述第一知识关系链与所述第二知识关系链形成的知识关系链为所述目标知识关系链。

7.根据权利要求1所述的参数影响程度分析方法，其特征在于，构建所述知识图谱的过程包括：

获取语料集，所述语料集包括至少一个文本语料以及每个所述文本语料对应的至少一个属性信息，所述文本语料中包括参数和平台信息中的至少一个；

对所述语料集中的每个文本语料进行分词，得到至少一个词汇；

识别所述词汇中的实体，并确定实体之间的关联关系；

将每个所述文本语料对应的至少一个属性信息作为对应实体的属性；

根据实体、所述实体之间的关联关系以及每个实体的属性构建所述语料集对应的知识图谱。