[发明专利]Z型扫描床位置精度的校正方法、存储介质及终端设备在审
| 申请号： | 202111541758.2 | 申请日： | 2021-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN114391861A | 公开（公告）日： | 2022-04-26 |
| 发明（设计）人： | 陈浩维 | 申请（专利权）人： | 纳米维景（上海）医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;A61B6/00 |
| 代理公司： | 上海得民颂知识产权代理有限公司 31379 | 代理人： | 陈开山 |
| 地址： | 201318 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 扫描 床位 精度 校正 方法 存储 介质 终端设备 | ||
1.一种Z型扫描床位置精度的校正方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1、获取扫描床的竖直高度信息；
S2、根据所述竖直高度信息，获取精调信息；
S3、获取相对高度信息；
S4、根据所述精调信息和所述相对高度信息，生成校正信息。
2.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，步骤S1具体包括以下步骤：
S101、获取所述扫描床的顶部基准信息；
S102、根据所述顶部基准信息，获取所述竖直高度信息。
3.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于，步骤S2具体包括以下步骤：
S201、获取扫描床的竖直高度信息；
S202、根据所述竖直高度信息，获取所述扫描床的水平位置信息；
S203、根据所述竖直高度信息和所述水平位置信息，获取所述精调信息。
4.根据权利要求3所述的校正方法，其特征在于，步骤S202具体包括以下步骤：
S2021、根据所述竖直高度信息，获取所述扫描床的第一水平信息和第二水平信息；
S2022、根据所述第一水平信息和所述第二水平信息，获取所述扫描床的所述水平位置信息。
5.根据权利要求4所述的校正方法，其特征在于，步骤S203具体包括以下步骤：
S2031、根据所述竖直高度信息，生成高度调整信息；
S2032、根据所述水平位置信息，生成水平角度调整信息；
S2033、根据所述高度调整信息和所述水平角度调整信息，生成所述校正信息。
6.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的Z型扫描床位置精度的校正方法。
7.一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5中任一项所述的Z型扫描床位置精度的校正方法。
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