[发明专利]一种磁轴承转子轴向位移测量方法有效
申请号: | 202111542690.X | 申请日: | 2021-12-16 |
公开(公告)号: | CN114427824B | 公开(公告)日: | 2023-07-25 |
发明(设计)人: | 李文超;白金刚 | 申请(专利权)人: | 洛阳轴承研究所有限公司;北京恩优科技有限公司 |
主分类号: | G01B7/02 | 分类号: | G01B7/02;F16C32/04 |
代理公司: | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人: | 田明;任晓航 |
地址: | 471039 河南省*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 磁轴 承转 轴向 位移 测量方法 | ||
1.一种磁轴承转子轴向位移测量方法,其特征在于:所述方法包括如下步骤:
S1、在转子导磁段外部安装差动感应探测装置;
S2、在所述差动感应探测装置的激励线圈中通入正弦交流电;
S3、引出差动电压信号,转换成转子轴向相对位移;
所述差动感应探测装置包括线圈骨架、第一差动感应线圈、励磁线圈、第二差动感应线圈;
所述第一差动感应线圈、励磁线圈、第二差动感应线圈从上至下依次绕制在所述线圈骨架上;
所述第一差动感应线圈位于转子导磁体台阶面之上,所述第二差动感应线圈位于所述转子导磁体台阶面之下;
所述第一差动感应线圈和所述第二差动感应线圈按照同样的匝数绕制在所述线圈骨架上;
所述线圈骨架固定安装在所述磁轴承电磁铁上,所述线圈骨架与所述转子之间无接触;
所述差动感应探测装置固定在所述轴向磁轴承电磁铁与所述转子之间的空隙部位;
所述差动感应探测装置的激励线圈中通入正弦交流电时,所述第一差动感应线圈中产生的感生电动势大小与所述第二差动感应线圈中产生的感生电动势大小不同;
所述第一差动感应线圈位于转子导磁体台阶面之上,存在漏磁通的现象,所述第一差动感应线圈所在位置的磁力线比第二差动感应线圈所在位置的磁力线稀疏,第一差动感应线圈比第二差动感应线圈的磁通量变化量要小,第一差动感应线圈的感生电动势比第二差动感应线圈的感生电动势小。
2.根据权利要求1所述的一种磁轴承转子轴向位移测量方法,其特征在于:所述线圈骨架由非导磁材料制成。
3.根据权利要求1所述的一种磁轴承转子轴向位移测量方法,其特征在于:所述第一差动感应线圈、励磁线圈、第二差动感应线圈与磁轴承电磁铁、转子之间均保持非接触状态。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的一种磁轴承转子轴向位移测量方法,其特征在于:所述差动感应探测装置通过集成了螺旋刻线的PCB板来实现。
5.根据权利要求4所述的一种磁轴承转子轴向位移测量方法,其特征在于:若转子不导磁,则在所述转子上装配薄导磁环,再使用所述方法测量所述转子轴向位移。
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