[发明专利]一种智能卡多功能测试方法及装置

说明书

一种智能卡多功能测试方法及系统，包括读卡器和PC，所述读卡器具有接触界面和非接触界面，并设置有对应的接触端口和非接触端口，方法包括步骤1，当智能卡插入读卡器接触界面时，PC端自动选择接触端口，进入接触模式；当智能卡插入读卡器接触界面时，PC端通过指令设置接触界面为掉电状态，并使用指令选择非接触端口，从而在智能卡插入接触界面时进入非接触式模式；当智能卡在读卡器非接触界面时，PC端自动选择非接触端口，从而进入非接触式模式；步骤2，在接触模式或非接触模式下进行防拔测试、性能测试和跟踪测试。本发明集成非接和接触智能卡两种测试于一体，并能自动切换接触模式或非接触模式，完成种类较多的多样化测试，并且成本低廉。

技术领域

本发明涉及智能卡测试领域，具体涉及一种智能卡多功能测试方法及装置。

背景技术

通常，智能卡根据其使用的环境和具体用途可分为接触式和非接触式两种，智能卡对应的芯片也随之分为接触式和非接触式两种，不同类型的智能卡芯片所使用的测试方式也不相同，但对测试的要求指标却基本一致。

目前对于专业的单一类型智能卡测试设备市场上较为多见，功能比较齐全，且价格非常昂贵，但是对于同时集成接触式和非接触式智能卡部分特定功能且低成本的测试的方法和设备则非常罕有。

因此，现在亟需一种智能卡多功能测试方法来解决上述问题。

发明内容

鉴于现有技术中存在的技术缺陷和技术弊端，本发明实施例提供克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种智能卡多功能测试方法及装置，具体方案如下：

作为本发明的第一方面，提供一种智能卡多功能测试方法，其特征在于，包括读卡器和PC，所述读卡器具有接触界面和非接触界面，并设置有对应的接触端口和非接触端口，所述读卡器与PC端连接，所述方法包括：

步骤1，当智能卡插入读卡器接触界面时，PC端自动选择接触端口，进入接触模式；

当智能卡插入读卡器接触界面时，PC端通过指令设置接触界面为掉电状态，并使用指令选择非接触端口，从而在智能卡插入接触界面时进入非接触式模式；

当智能卡在读卡器非接触界面时，PC端自动选择非接触端口，从而进入非接触式模式；

步骤2，在所述接触模式或非接触模式下自动进行防拔测试、性能测试和跟踪测试。

进一步地，防拔测试具体包括：

通过获取指令时间的指令获取上一条指令的执行时间，根据获取的上一条指令的执行时间确认下一指令执行时间的起始值以及执行时间的步长；

基于下一指令执行时间的起始值以及执行时间的步长获取断电时间；

通过断电指令设置读卡器的断电时间，并在下一条指令执行到断电时间后对智能卡执行下电操作。

进一步地，性能测试具体包括；

当进行性能测试时，通过性能监测指令和波形数据输出指令监控和记录指令执行时的波形数据，并将对应指令的执行时间进行统计，并将指令执行时间返回给测试程序，同时测试程序依据波形数据生成波形文件。

进一步地，具体包括：

将读卡器连接PC端，通过设置跟踪指令，设置读卡器处于跟踪模式；

将智能卡插入读卡器接触界面，同时将读卡器上的扩展板插入到第三方读卡器，建立读卡器的监听通道，通过跟踪测试程序，获取第三方读卡器与智能卡交互的指令流，并同步输出智能卡的指令流和波形数据，测试程序依据波形数据生成波形文件。