[发明专利]大尺寸碳化硅籽晶的生长方法、对应单晶的生长方法在审

专利信息
申请号: 202111551668.1 申请日: 2021-12-17
公开(公告)号: CN114262935A 公开(公告)日: 2022-04-01
发明(设计)人: 王明华;朱鑫煌;蒋琳;张振远 申请(专利权)人: 杭州乾晶半导体有限公司
主分类号: C30B29/36 分类号: C30B29/36;C30B23/00;C30B33/06
代理公司: 杭州五洲普华专利代理事务所(特殊普通合伙) 33260 代理人: 姚宇吉
地址: 311200 浙江省杭州市萧山*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 尺寸 碳化硅 籽晶 生长 方法 对应
【权利要求书】:

1.一种大尺寸碳化硅籽晶的生长方法,其特征在于,包括:

获取多片晶面相同的小尺寸碳化硅单晶片,其中至少一片为无定位边的小尺寸碳化硅单晶片;

对多片小尺寸碳化硅单晶片沿特定晶向进行切割,每一片分别切割形成至少一个扇环状碳化硅单晶片,所述多片扇环状碳化硅单晶片用于拼接成一个完整的环状碳化硅单晶片,其中扇环状碳化硅单晶片的内径与小尺寸碳化硅单晶片的外径一致,且多个扇环状碳化硅单晶片的切割方向不一致,但拼接成一个完整的环状碳化硅单晶片时各个扇环状碳化硅单晶片的空间结晶取向一致;

将所述多块扇环状碳化硅单晶片围绕在无定位边的小尺寸碳化硅单晶片拼接并固定,形成大尺寸的碳化硅拼接籽晶片,其中内部的无定位边的小尺寸碳化硅单晶片和外部的环状碳化硅单晶片的空间结晶取向一致;

对大尺寸的碳化硅拼接籽晶片表面进行一次或多次的籽晶拼接缝闭合生长工艺,直到拼接缝完全闭合,形成大尺寸碳化硅籽晶。

2.如权利要求1所述的大尺寸碳化硅籽晶的生长方法,其特征在于,多片晶面取向相同的小尺寸碳化硅单晶片包括至少一片无定位边的小尺寸碳化硅单晶片和多片有定位边的小尺寸碳化硅单晶片,对所述无定位边的小尺寸碳化硅单晶片进行晶体定向并进行标记,且标记的晶向与有定位边的小尺寸碳化硅单晶片中的定位边对应的晶向相同,利用所述标记的晶向,使得后续拼接时无定位边的小尺寸碳化硅单晶片和外部的环状碳化硅单晶片的空间结晶取向一致。

3.如权利要求1所述的大尺寸碳化硅籽晶的生长方法,其特征在于,对8片小尺寸碳化硅单晶片沿特定晶向进行切割,每一片切割形成一45°角的扇环状碳化硅单晶片,每一个45°角的扇环状碳化硅单晶片的切割方向依次差45°,8个45°角的扇环状碳化硅单晶片拼接成一个完整的环状碳化硅单晶片时各个扇环状碳化硅单晶片的空间结晶取向一致,所述小尺寸碳化硅单晶片为4英寸的碳化硅单晶片,最终拼成的大尺寸碳化硅籽晶为8英寸的碳化硅籽晶。

4.如权利要求1所述的大尺寸碳化硅籽晶的生长方法,其特征在于,对2片小尺寸碳化硅单晶片沿特定晶向进行切割,每一片切割形成两个90°角的扇环状碳化硅单晶片,每一个90°角的扇环状碳化硅单晶片的切割方向依次差90°,4个90°角的扇环状碳化硅单晶片拼接成一个完整的环状碳化硅单晶片时各个扇环状碳化硅单晶片的空间结晶取向一致,所述小尺寸碳化硅单晶片为6英寸的碳化硅单晶片,最终拼成的大尺寸碳化硅籽晶为8英寸的碳化硅籽晶。

5.如权利要求1所述的大尺寸碳化硅籽晶的生长方法,其特征在于,将所述碳化硅单晶片拼接并固定的具体步骤包括:在石墨板表面涂敷粘结剂,将所述环状碳化硅单晶片和无定位边的小尺寸碳化硅单晶片在石墨板上进行拼接并利用一直径等于或者略大于拼接直径的石墨环固定住拼接结构,拼接结构通过粘结剂粘在石墨板上,对拼接结构施加压力,使得拼接结构各表面高度偏差低于阈值,并通过加热使得拼接结构固定在石墨板上。

6.如权利要求1所述的大尺寸碳化硅籽晶的生长方法,其特征在于,所述籽晶拼接缝闭合生长工艺利用PVT法进行籽晶拼接缝闭合生长,具体工艺包括:将所述碳化硅拼接籽晶片作为PVT法碳化硅生长炉中晶体生长的籽晶,在1500摄氏度~1800摄氏度通入氩气、氢气、氯化氢气体、氯气等两种或者三种的组合,对大尺寸的碳化硅拼接籽晶片表面进行刻蚀预处理;将温度提升到2000摄氏度~2200摄氏度,通入氩气和氮气,保持反应器气压在100Pa~1500Pa,籽晶表面跟坩埚底部存在50~100摄氏度的温度梯度,以低于100um/hr的速率缓慢生长碳化硅单晶层,使得拼接缝隙逐渐闭合;生长结束后,以每分钟1~3摄氏度的速率缓慢降温。

7.如权利要求1所述的大尺寸碳化硅籽晶的生长方法,其特征在于,还包括:对拼接缝完全闭合所形成的大尺寸碳化硅籽晶根据待生长的晶体晶向进行研磨抛光。

8.如权利要求1所述的大尺寸碳化硅籽晶的生长方法,其特征在于,用于拼接的小尺寸碳化硅单晶片的厚度大于1mm。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州乾晶半导体有限公司,未经杭州乾晶半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111551668.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top