[发明专利]RISC-V内核MCU调试的下载程序方法及调试器有效
申请号: | 202111560421.6 | 申请日: | 2021-12-20 |
公开(公告)号: | CN113946481B | 公开(公告)日: | 2022-03-18 |
发明(设计)人: | 张远伟;杨岩 | 申请(专利权)人: | 南京瑞斯科微控制器研究院有限公司 |
主分类号: | G06F11/263 | 分类号: | G06F11/263;G06F8/61 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 210012 江苏省南*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | risc 内核 mcu 调试 下载 程序 方法 | ||
1.一种RISC-V内核MCU调试的下载程序方法,其特征在于,包括以下步骤:
MCU进入调试模式,调试器将特定程序写入MCU的RAM中,所述特定程序包括擦除函数、编程函数及校验函数,至少在校验函数末尾设有ebreak指令;
MCU在调试模式和工作模式间不断循环切换,以此完成被调试程序的全部下载;
在调试模式下,调试器将本次执行函数所需的函数参数写入MCU的RAM中,将dpc寄存器中的值改为本次执行函数的起始地址,设置dmcontrol寄存器使MCU进入工作模式;
在工作模式下,根据dpc寄存器中的值执行本次执行函数,将函数执行结果写入RAM,当执行到ebreak指令时,MCU进入调试模式;
所述本次执行函数为擦除函数、编程函数及校验函数中的一种或多种。
2.根据权利要求1所述的RISC-V内核MCU调试的下载程序方法,其特征在于,调试器将被调试程序分为若干个程序块,每次以编程函数所需的参数的形式将一个程序块写入MCU的RAM中,再在工作模式下以执行编程函数的形式下载程序块至MCU的FLASH中。
3.根据权利要求2所述的RISC-V内核MCU调试的下载程序方法,其特征在于,特定程序中的擦除函数、编程函数及校验函数按顺序排列。
4.根据权利要求3所述的RISC-V内核MCU调试的下载程序方法,其特征在于,MCU在调试模式和工作模式间不断循环切换包括:
步骤A、本次执行函数为擦除函数、编程函数及校验函数,擦除函数所需的参数包括擦除起始地址、擦除大小,编程函数所需的参数包括编程起始地址、编程数据、编程大小,校验函数所需的参数包括校验起始地址、校验数据、校验大小,且校验起始地址与编程起始地址相同,校验数据与编程数据相同,校验大小与编程大小相同,所述编程数据为第一个程序块的内容;调试器将dpc寄存器中的值改为擦除函数的起始地址,设置dmcontrol寄存器使MCU切换到工作模式;MCU在工作模式下顺序执行擦除函数、编程函数、校验函数、ebreak,当执行到ebreak指令时,MCU返回到调试模式;
步骤B、本次执行函数为编程函数及校验函数,编程函数所需的参数包括编程起始地址、编程数据、编程大小,校验函数所需的参数包括校验起始地址、校验数据、校验大小,且校验起始地址与编程起始地址相同,校验数据与编程数据相同,校验大小与编程大小相同,所述编程数据为本次程序块的内容;调试器将dpc寄存器中的值改为编程函数的起始地址,设置dmcontrol寄存器使MCU切换到工作模式;MCU在工作模式下顺序执行编程函数、校验函数、ebreak,当执行到ebreak指令时,MCU返回到调试模式;
不断重复步骤B至被调试程序的所有程序块全部下载完成。
5.根据权利要求3所述的RISC-V内核MCU调试的下载程序方法,其特征在于,擦除函数末尾也含有ebreak指令,MCU在调试模式和工作模式间不断循环切换包括:
步骤A、本次执行函数为擦除函数,擦除函数所需的参数包括擦除起始地址、擦除大小;调试器将dpc寄存器中的值改为擦除函数的起始地址,设置dmcontrol寄存器使MCU切换到工作模式;MCU在工作模式下依次执行擦除函数、ebreak,当执行到ebreak指令时,MCU返回到调试模式;
步骤B、本次执行函数为编程函数及校验函数,编程函数所需的参数包括编程起始地址、编程数据、编程大小,校验函数所需的参数包括校验起始地址、校验数据、校验大小,且校验起始地址与编程起始地址相同,校验数据与编程数据相同,校验大小与编程大小相同,所述编程数据为本次程序块的内容;调试器将dpc寄存器中的值改为编程函数的起始地址,设置dmcontrol寄存器使MCU切换到工作模式执行编程函数、校验函数、ebreak;当执行到ebreak指令时,MCU返回到调试模式;
不断重复步骤B至被调试程序的所有程序块全部下载完成。
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