[发明专利]基于调平三角架的水平测距装置

权利要求书

1.一种基于调平三角架的水平测距装置，其特征在于，包括用于进行激光测距的测距仪和用于调平所述测距仪的调平三脚架；其中，

所述调平三脚架包括可旋转的托盘；所述托盘用于承载所述测距仪；

所述托盘连接有调节旋钮，所述调节旋钮用于调节所述托盘的旋转角度以调整所述测距仪的水平旋转角度；

在所述托盘的下方设置有支撑盘；所述支撑盘作为所述调平三脚架的支撑部，用于支撑所述托盘；

在所述支撑盘的下方设置有三个等间距设置的可调节支腿；所述可调节支腿用于调节所述支撑盘的高度以调节所述测距仪的高度；

所述测距仪通过限位固定结构限位托举固定在所述托盘上。

2.如权利要求1所述的基于调平三角架的水平测距装置，其特征在于，

所述支撑盘与所述托盘为圆饼型；

所述托盘的直径小于所述支撑盘的直径。

3.如权利要求2所述的基于调平三角架的水平测距装置，其特征在于，

在所述支撑盘的上方设置有盘盖；

所述盘盖为环形，覆盖在所述支撑盘宽于所述托盘的部分。

4.如权利要求1所述的基于调平三角架的水平测距装置，其特征在于，在所述托盘上标刻有刻度，所述刻度用于表示所述托盘的旋转角度。

5.如权利要求1所述的基于调平三角架的水平测距装置，其特征在于，

所述可调节支腿包括与所述支撑盘相固定的上支腿部分，和通过螺纹与所述上支腿部分螺栓丝扣的下支腿部分。

6.如权利要求5所述的基于调平三角架的水平测距装置，其特征在于，

所述下支腿部分包括柱状螺帽和圆锥状支脚。

7.如权利要求1所述的基于调平三角架的水平测距装置，其特征在于，

所述限位固定结构包括相互配合的卡扣凸起和卡扣槽；其中，

所述卡扣凸起设置在所述托盘上，所述卡扣槽设置在所述测距仪上。

8.如权利要求1所述的基于调平三角架的水平测距装置，其特征在于，

所述限位固定结构包括相互配合磁吸固定的磁吸凸起和磁吸凹槽；其中，

所述磁吸凸起设置在所述托盘上，所述磁吸凹槽设置在所述测距仪上。

9.一种基于调平三角架的水平测距方法，基于如权利要求1-8中任一项所述的基于调平三角架的水平测距装置，包括：

在测距仪与调平三脚架上设置相匹配的限位固定结构，使所述测距仪通过所述限位固定结构与所述调平三脚架相固接；

将与所述测距仪相固接的调平测距仪放置在待测起点位上，并调节所述调平三脚架的三个可调节支脚，以使所述调平三脚架的支撑台为水平状态；

在预设的待测目标点位上放置反光靶，通过所述调平三脚架的调节旋钮调节所述水平状态的支撑台上的测距仪的水平旋转角度，以使所述测距仪的激光照射所述反光靶；

在所述测距仪上读取关于所述反光靶的数据，以获取所述待测起点位与所述待测目标点位的水平距离。

10.如权利要求9所述的基于调平三角架的水平测距方法，其特征在于，调节所述调平三脚架的三个可调节支脚的过程，包括：

依次旋拧所述可调节支脚的下支腿部分，调节所述下支腿部分与所述可调节支脚的上支腿部分的距离，以调节所述可调节支脚的高度。