[发明专利]一种毫欧级精密阻值采样器件

权利要求书

1.一种毫欧级精密阻值采样器件，包括底座(1)、安装板(2)、主体(3)、快速固定结构、辅助限位结构以及保护结构，其特征在于：所述底座(1)的上端表面处开设有四个贯穿槽(4)，所述安装板(2)设置有两个，两个所述安装板(2)均呈L型，两个所述安装板(2)均固定安装于底座(1)的底部处，所述主体(3)位于底座(1)的上端表面处所述快速固定结构安装于底座(1)的底部处，且所述快速固定结构穿过贯穿槽(4)，所述快速固定结构与主体(3)的顶部处抵接，所述辅助限位结构安装于快速固定结构处，所述辅助限位结构与主体(3)的两侧处贴合抵接，所述保护结构位于底座(1)的上端表面处。

2.根据权利要求1所述的一种毫欧级精密阻值采样器件，其特征在于：所述快速固定结构包括固定架(5)、活动板(6)以及调节旋钮A(7)，所述固定架(5)设置有两个，两个所述固定架(5)均呈倒转的凹字形，两个所述固定架(5)的两端分别穿过四个贯穿槽(4)，所述固定架(5)的尺寸与贯穿槽(4)的尺寸相匹配，所述活动板(6)的顶部与两个固定架(5)的底部处固定连接，所述调节旋钮A(7)的一端通过螺纹连接贯穿活动板(6)，且所述调节旋钮A(7)通过轴承与底座(1)的底部处转动连接，且两个所述固定架(5)的内部顶端处与主体(3)的顶部处贴合抵接，所述固定架(5)与主体(3)顶部的抵接处贴合设置有第一弹性垫层(8)。

3.根据权利要求1所述的一种毫欧级精密阻值采样器件，其特征在于：四个所述贯穿槽(4)的内部表面处均经过光滑处理。

4.根据权利要求2所述的一种毫欧级精密阻值采样器件，其特征在于：两个所述固定架(5)均采用绝缘材料制成。

5.根据权利要求1所述的一种毫欧级精密阻值采样器件，其特征在于：所述辅助限位结构包括固定板(9)、抵接板(10)以及调节旋钮B(11)，所述辅助限位结构设置有两组，两个所述固定板(9)分别固定安装于两个固定架(5)的顶部处，两个所述抵接板(10)分别通过两组伸缩杆(12)安装于两个固定板(9)相互远离的一侧处，两个所述调节旋钮B(11)分别通过螺纹连接贯穿两个固定板(9)，且所述调节旋钮B(11)通过轴承与抵接板(10)转动连接，两个所述抵接板(10)的底部处分别与主体(3)的两侧靠近于其顶部处贴合抵接，所述抵接板(10)与主体(3)两侧的抵接处贴合设置有第二弹性垫层(13)。

6.根据权利要求5所述的一种毫欧级精密阻值采样器件，其特征在于：所述保护结构包括限位块(14)和防护罩(15)，所述限位块(14)设置有多个，多个所述限位块(14)均固定安装于底座(1)的上端表面处，所述防护罩(15)活动位于底座(1)的上端表面处，且所述防护罩(15)的内侧四周分别与多个限位块(14)贴合，所述防护罩(15)的两侧处均开设有贯穿的走线孔(16)。