[发明专利]特征筛选方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种特征筛选方法，其特征在于，所述方法包括：

获取候选特征在建模样本上的第一稳定性指标；

获取所述候选特征在非建模样本上的第二稳定性指标，其中，所述非建模样本的采样时间位于所述建模样本的采样时间之后；

基于所述第一稳定性指标以及所述第二稳定性指标，获取所述候选特征在综合样本上的综合稳定性指标，其中，所述综合样本包含所述建模样本以及所述非建模样本；

基于所述综合稳定性指标，对所述候选特征进行筛选，得到用于建模的目标特征。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取候选特征在建模样本上的第一稳定性指标，包括：

对所述建模样本的采样时间进行区间划分，得到各第一时间区间；

对所述候选特征在所述建模样本上的特征值进行区间划分，得到各第一特征值区间；

基于各第一时间区间中各第一特征值区间的建模样本数量占比，获取所述候选特征在相邻第一时间区间的建模样本上的第一子稳定性指标；

基于所述第一子稳定性指标，获取所述第一稳定性指标。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，基于各第一时间区间中各第一特征值区间的建模样本数量占比，获取所述候选特征在相邻第一时间区间的建模样本上的第一子稳定性指标，包括：

基于各第一时间区间中各第一特征值区间的建模样本数量占比，获取相邻第一时间区间之间各第一特征值区间的建模样本数量占比之差，以及相邻第一时间区间之间各第一特征值区间的建模样本数量占比之比；

基于所述建模样本数量占比之差以及所述建模样本数量占比之比，获取所述第一子稳定性指标。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，基于所述第一子稳定性指标，获取所述第一稳定性指标，包括：

计算所述第一子稳定性指标的平均值，得到所述第一稳定性指标。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，获取所述候选特征在非建模样本上的第二稳定性指标，包括：

对所述非建模样本的采样时间进行区间划分，得到各第二时间区间；

对所述候选特征在所述非建模样本上的特征值进行区间划分，得到各第二特征值区间；

基于各第二时间区间中各第二特征值区间的非建模样本数量占比，获取所述候选特征在相邻第二时间区间的非建模样本上的第二子稳定性指标；

基于所述第二子稳定性指标，获取所述第二稳定性指标。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，基于所述第二子稳定性指标，获取所述第二稳定性指标，包括：

计算所述第二子稳定性指标的平均值，得到所述第二稳定性指标。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，基于所述第二子稳定性指标，获取所述第二稳定性指标，包括：

获取各相邻第二时间区间的权重，其中，所述权重与对应相邻第二时间区间到当前时刻的距离呈负相关；

基于所述权重计算所述第二子稳定性指标的加权值，得到所述第二稳定性指标。

8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取第一时间区间的建模样本的平均样本数量；

从各第二时间区间分别采样得到所述平均样本数量的非建模样本。

9.一种特征筛选装置，其特征在于，所述装置包括：

第一获取模块，配置为获取候选特征在建模样本上的第一稳定性指标；

第二获取模块，配置为获取所述候选特征在非建模样本上的第二稳定性指标，其中，所述非建模样本的采样时间位于所述建模样本的采样时间之后；

第三获取模块，配置为基于所述第一稳定性指标以及所述第二稳定性指标，获取所述候选特征在综合样本上的综合稳定性指标，其中，所述综合样本包含所述建模样本以及所述非建模样本；

筛选模块，配置为基于所述综合稳定性指标，对所述候选特征进行筛选，得到用于建模的目标特征。