[发明专利]离子阱质谱仪的离子隔离方法、系统及介质

权利要求书

1.一种离子阱质谱仪的离子隔离方法，其特征在于，包括：

离子引入步骤：打开离子阱的离子门，将质谱仪的后端盖置于预设电位，捕捉离子；

离子囚禁步骤：关闭离子门，捕捉的离子稳定在离子阱中心区域；

离子隔离步骤：根据正电压所占DDS数量和/或隔离时间，获取母离子质荷比m/z、隔离质量数范围以及母离子隔离效率值这三者中的任一种或任多种；

隔离冷却步骤：将离子置于预设值处，并根据预设隔离冷却时间对离子进行冷却；

离子清空步骤：在离子阱电极上施加预设占空比，完成离子清空。

2.根据权利要求1所述的离子阱质谱仪的离子隔离方法，其特征在于，所述离子引入步骤包括：离子阱的离子门处于打开状态，后端盖置于预设电位，在数字离子阱电极上施加正电压V₁，负电压V₂，占空比d＝0.5的射频方波，由四极场捕获离子；

所述离子囚禁步骤包括：离子门处于关闭状态，离子与缓冲气进行碰撞，离子稳定在离子阱中心区域的空间内，冷却阶段的时间为10ms；

所述隔离冷却步骤包括：将离子置于预设q值处，隔离冷却时间选择5ms；

所述离子清空步骤包括：在数字离子阱电极的极片上施加占空比d＝0.1的数字矩形波，完成离子的清空，离子清空时间为5ms。

3.根据权利要求1所述的离子阱质谱仪的离子隔离方法，其特征在于，所述离子隔离步骤中包括：

离子被囚禁在离子阱中，正电压V₁所占26DDS时，对应的隔离窗口为30Th；即对于母离子质荷比m/z＝106Th，隔离质量数范围为106±10Th。

4.根据权利要求3所述的离子阱质谱仪的离子隔离方法，其特征在于，所述离子隔离步骤中还包括：

隔离时间分别为：1ms、0.2ms以及0.05ms，母离子的隔离为100％；当正电压V₁所占为25DDS时，对应的隔离窗口为4Th；即对于母离子m/z＝106Th，隔离质量数范围为106±1Th；

隔离时间分别为：1ms、0.2ms和0.05ms；当隔离时间为0.05ms时，母离子的隔离效率为100％，离子中心质量处的隔离效率下降至67％。

5.一种离子阱质谱仪的离子隔离系统，其特征在于，包括：

离子引入模块：打开离子阱的离子门，将质谱仪的后端盖置于预设电位，捕捉离子；

离子囚禁模块：关闭离子门，捕捉的离子稳定在离子阱中心区域；

离子隔离模块：根据正电压所占DDS数量和/或隔离时间，获取母离子质荷比m/z、隔离质量数范围以及母离子隔离效率值这三者中的任一种或任多种；

隔离冷却模块：将离子置于预设值处，并根据预设隔离冷却时间对离子进行冷却；

离子清空模块：在离子阱电极上施加预设占空比，完成离子清空。

6.根据权利要求5所述的离子阱质谱仪的离子隔离系统，其特征在于，所述离子引入模块包括：离子阱的离子门处于打开状态，后端盖置于预设电位，在数字离子阱电极上施加正电压V₁，负电压V₂，占空比d＝0.5的射频方波，由四极场捕获离子；

所述离子囚禁模块包括：离子门处于关闭状态，离子与缓冲气进行碰撞，离子稳定在离子阱中心区域的空间内，冷却阶段的时间为10ms；

所述隔离冷却模块包括：将离子置于预设q值处，隔离冷却时间选择5ms；

所述离子清空模块包括：在数字离子阱电极的极片上施加占空比d＝0.1的数字矩形波，完成离子的清空，离子清空时间为5ms。

7.根据权利要求5所述的离子阱质谱仪的离子隔离系统，其特征在于，所述离子隔离模块中包括：

离子被囚禁在离子阱中，正电压V₁所占26DDS时，对应的隔离窗口为30Th；即对于母离子质荷比m/z＝106Th，隔离质量数范围为106±10Th。