[发明专利]一种多速率可调节采样率频率的测量ASIC芯片在审

专利信息
申请号: 202111573227.1 申请日: 2021-12-21
公开(公告)号: CN114384405A 公开(公告)日: 2022-04-22
发明(设计)人: 夏国明;赵广胜;赵阳;施芹;裘安萍 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G01R31/3185 分类号: G01R31/3185
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 汪清
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 速率 调节 采样率 频率 测量 asic 芯片
【说明书】:

发明公开了一种多速率可调节采样率频率测量ASIC芯片,包括:周期计数模块,用于将被测硅微谐振式加速度计的模拟振荡信号F同步到晶振提供的基准时钟clk,用基准时钟对同步后的模拟振荡信号进行计数后输出计数值N;非线性补偿模块,用于将计数值N转化为和频率的平方成正比的定点数M,然后和输入振荡信号F对齐,后输出对齐后的定点数Dout;任意采样率调节模块,用于调节输出定点数Dout的采样率,实现任意采样率的输出最终的定点值Dout3;数字接口模块,用于和上位机通信,包括配置寄存器和将数据输出到上位机。本发明能够实现硅微谐振式加速度计数字化输出,解决了硅微谐振式加速度计输出非线性的问题。

技术领域

本发明涉及数字信号处理与硬件编程领域,涉及一种对频率测量算法在专用集成电路上的实现,具体涉及一种多速率可调节采样率频率的测量ASIC(ApplicationSpecific Integrated Circuit)芯片。

背景技术

频率是最基本的物理量之一,尤其在电子技术和数字信号处理领域中,因频率信号的高抗干扰性和传输方便的优点,以频率为输出量的传感器在航天航空、导航、卫星定位、反导系统等多领域不断兴起,低功耗高精度的测频方法成为了各国专家研究热点。对振荡信号的频率测量方法主要有锁相环法、计数法和微分法。(1)2000年韩国三星电子提出了一种基于锁相环的测频电路,利用压控振荡器控制信号与频率成正比的特性实现频率识别(朴贤洙,沈载晟,元容光。检测数字锁相环频率的方法。公开号:CN1171386C)。锁相环测频法优点是灵敏度高、精度高,缺点是锁相环是一个闭环系统,在大带宽信号测试时会出现失锁现象,锁相环测频不具有良好的稳定性;(2)2014年南京理工大学提出的一种基于微分测频算法实现测频的方法(夏国明,林晨,施芹,裘安萍,苏岩,丁衡高。一种基于数字信号处理器平台的微分测频系统。公开号:CN204330882U)。微分测频方法优点是不需要额外的基准时钟,抗噪性强,稳定性好,缺点是功耗比较大,不能集成。(3)2012年浙江大学提出了一种基于计数器的测频电路(王睿。一种多功能高精度数字频率计。公开号:CN202362380U)。优点是结构简单,功耗低,缺点是和谐振式加速度计匹配度不高,输出非线性较大,精度也达不到要求。综上所述,上述测频方法都有各自的优劣特性,难以适应硅微谐振式加速度计低功耗高精度大带宽的频率读取要求。

发明内容

本发明的目的在于提供一种多速率可调节采样率频率的测量ASIC芯片,以实现硅微谐振式加速度计数字化输出具有sigma-delta噪声调制效果、输出采样率可任意调节、对以频率表征加速度信号均值无误差。

实现本发明目的的技术解决方案为:

一种多速率可调节采样率频率测量ASIC芯片,包括:

周期计数模块,用于将被测硅微谐振式加速度计的模拟振荡信号F同步到晶振提供的基准时钟clk,输出同步后方波信号F1,用基准时钟对同步后方波信号F1进行计数后输出计数值N;

非线性补偿模块,用于将计数值N转化为和频率的平方成正比的定点数M,然后和同步后方波信号F1对齐,后输出对齐后的定点数Dout;

任意采样率调节模块,用于调节输出Dout的采样率,实现任意采样率的输出最终的定点值Dout3;

数字接口模块,用于和上位机通信,包括配置寄存器和将数据输出到上位机。

本发明与现有技术相比,其显著优点是:

(1)本测频方法有着一阶sigma-delta噪声调制原理,大大抑制输出频率中低频量化噪声,实现了在0.1Hz~1Hz带宽内噪声水平0.1mHz/rtHz;

(2)通过非线性补偿模块,使输出数据正比于频率的平方,保证了以频率表征加速度信号均值无误差;

(3)通过采样率可调节模块,实现了多采样率输出,满足了不同的使用场景;

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