[发明专利]一种用于光电控制产品的老化测试方法在审
申请号: | 202111574178.3 | 申请日: | 2021-12-21 |
公开(公告)号: | CN114236294A | 公开(公告)日: | 2022-03-25 |
发明(设计)人: | 任文波 | 申请(专利权)人: | 知辛电子科技(苏州)有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 苏州唯思而迈专利代理事务所(普通合伙) 32453 | 代理人: | 李艳 |
地址: | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 光电 控制 产品 老化 测试 方法 | ||
1.一种用于光电控制产品的老化测试方法,其特征在于,采用光电控制产品的老化测试系统,所述测试系统包括若干用于测试所述产品的测试模块、与所述测试模块通讯连接的控制模块、用于人机交互的操作终端,所述操作终端与所述控制模块相连接,所述老化测试方法包括:
步骤S01:将若干所述产品分别与所述测试模块相连接,所述老化测试系统自检,建立产品档案;
步骤S02:在所述操作终端上设置测试时间T1、中断时间T2、测试次数N后生成测试命令,并由所述控制模块根据所述测试命令控制所述测试模块进行测试;
步骤S03:T1时间后,所述控制模块控制所述测试模块中断测试,同时记录实测次数n;
步骤S04:T2时间后,所述控制模块控制所述测试模块再次启动测试;
步骤S05:所述控制模块将所述实测次数n与所述测试次数N进行比对,如n小于N-1,则重复步骤S03~步骤S05,如n大于等于N-1,则T1时间后,所述控制模块控制所述测试模块停止测试;
步骤S06:所述控制模块控制所述测试模块检查测试结果,并将所述测试结果关联至对应的所述产品档案后上传至所述操作终端,同时保存到数据库。
2.根据权利要求1所述的用于光电控制产品的老化测试方法,其特征在于:步骤S01中,所述老化测试系统自检,包括以下步骤:
S01.1、所述控制模块分别对每个所述测试模块发出读取命令;
S01.2、所述测试模块接收到所述读取命令后读取相连接的所述产品的产品信息,并将所述产品信息反馈至所述控制模块;
S01.3、如所述测试模块读取失败,则向所述控制模块反馈报警信号;
S01.4、所述控制模块将所述产品信息或所述报警信号上传至所述操作终端。
3.根据权利要求2所述的用于光电控制产品的老化测试方法,其特征在于:步骤S01中,建立产品档案具体为:所述控制模块根据所述产品信息建立以所述产品信息为名称的档案文件夹。
4.根据权利要求1所述的用于光电控制产品的老化测试方法,其特征在于:步骤S03与步骤S04之间还包括:
步骤S03.1、所述控制模块控制所述测试模块对所述产品的状态进行检查;
步骤S03.2、所述测试模块将检查结果反馈至所述控制模块,并由所述控制模块对所述检查结果进行判定;
步骤S03.3、如所述控制模块判定所述检查结果不合格,则控制所述测试模块停止对所述产品的测试,并生成报警信号上传至所述操作终端。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于知辛电子科技(苏州)有限公司,未经知辛电子科技(苏州)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111574178.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种堆焊层层下裂纹检测方法
- 下一篇:揽收任务处理方法和装置